<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE root>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">Cosmic Research</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Cosmic Research</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Космические исследования</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn publication-format="print">0023-4206</issn><issn publication-format="electronic">3034-5502</issn><publisher><publisher-name xml:lang="en">The Russian Academy of Sciences</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="publisher-id">672391</article-id><article-id pub-id-type="doi">10.31857/S0023420624030023</article-id><article-id pub-id-type="edn">JKKZAW</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en"><subject>Articles</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="article-type"><subject>Research Article</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Радиационная стойкость покрытия для космических аппаратов, полученного принтерной печатью</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Радиационная стойкость покрытия для космических аппаратов, полученного принтерной печатью</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><name><surname>Михайлов</surname><given-names>М. М.</given-names></name><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><email>yusalek@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name><surname>Артищев</surname><given-names>С. А.</given-names></name><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><email>yusalek@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name><surname>Лапин</surname><given-names>А. Н.</given-names></name><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><email>yusalek@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name><surname>Юрьев</surname><given-names>С. А.</given-names></name><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><email>yusalek@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name><surname>Горончко</surname><given-names>В. А.</given-names></name><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><email>yusalek@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name><surname>Труфанова</surname><given-names>Н. С.</given-names></name><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><email>yusalek@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name><surname>Михайлова</surname><given-names>О. А.</given-names></name><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><email>yusalek@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><name><surname>Федосов</surname><given-names>Д. С.</given-names></name><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><email>yusalek@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib></contrib-group><aff id="aff1"><institution>Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники</institution></aff><pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2024-11-29" publication-format="electronic"><day>29</day><month>11</month><year>2024</year></pub-date><volume>62</volume><issue>3</issue><fpage>249</fpage><lpage>253</lpage><history><date date-type="received" iso-8601-date="2025-02-27"><day>27</day><month>02</month><year>2025</year></date></history><permissions><copyright-statement xml:lang="en">Copyright ©; 2024, Russian Academy of Sciences</copyright-statement><copyright-statement xml:lang="ru">Copyright ©; 2024, Российская академия наук</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="en">Russian Academy of Sciences</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="ru">Российская академия наук</copyright-holder></permissions><self-uri xlink:href="https://journals.eco-vector.com/0023-4206/article/view/672391">https://journals.eco-vector.com/0023-4206/article/view/672391</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>Представлены результаты исследований изменений спектров диффузного отражения и интегрального коэффициента поглощения солнечной радиации (<italic>a</italic><italic><sub>s</sub></italic>) терморегулирующего покрытия класса “Оптические солнечные отражатели” для космических аппаратов при облучении электронами. Диэлектрическую керамическую пасту, состоящую из наполнителя — измельченного поликора (Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>) и растворителя с загустителем (терпинеол с этилцеллюлозой), наносили 3D-принтером на подложку. Затем осуществляли прогрев при 150 °C и отжиг при 850 °C, получали “белое” покрытие с высоким коэффициентом отражения и малым коэффициентом поглощения <italic>a</italic><italic><sub>s</sub></italic>, удовлетворяющим требованиям и стандартам терморегулирующего покрытия рассматриваемого класса. Радиационная стойкость полученного покрытия на основе диэлектрической керамической пасты сравнима со стойкостью высокостабильного покрытия на основе пигмента ZnO с жидким литиевым стеклом и значительно выше стойкости плазменнонапыленного покрытия — шпинели MgAl<sub>2</sub>O<sub>4</sub>.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Представлены результаты исследований изменений спектров диффузного отражения и интегрального коэффициента поглощения солнечной радиации (<italic>a</italic><italic><sub>s</sub></italic>) терморегулирующего покрытия класса “Оптические солнечные отражатели” для космических аппаратов при облучении электронами. Диэлектрическую керамическую пасту, состоящую из наполнителя — измельченного поликора (Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>) и растворителя с загустителем (терпинеол с этилцеллюлозой), наносили 3D-принтером на подложку. Затем осуществляли прогрев при 150 °C и отжиг при 850 °C, получали “белое” покрытие с высоким коэффициентом отражения и малым коэффициентом поглощения <italic>a</italic><italic><sub>s</sub></italic>, удовлетворяющим требованиям и стандартам терморегулирующего покрытия рассматриваемого класса. Радиационная стойкость полученного покрытия на основе диэлектрической керамической пасты сравнима со стойкостью высокостабильного покрытия на основе пигмента ZnO с жидким литиевым стеклом и значительно выше стойкости плазменнонапыленного покрытия — шпинели MgAl<sub>2</sub>O<sub>4</sub>.</p></trans-abstract><funding-group><award-group><funding-source><institution-wrap><institution xml:lang="ru">Министерство науки и высшего образования Российской Федерации</institution></institution-wrap><institution-wrap><institution xml:lang="en">Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation</institution></institution-wrap></funding-source><award-id>FEWM-2022-0005</award-id></award-group></funding-group></article-meta></front><body></body><back><ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation>Kauder L. Spacecraft Thermal Control Coatings References. 2005. NASA Technical Publication 20070014757. https://ntrs.nasa.gov/citations/20070014757</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation>Михайлов М. М. Спектры отражения терморегулирующих покрытий космических аппаратов. Т. 1. Томск: Изд-во Томского ун-та, 2007. 314 с.</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation>Yanchao X., Hong G., Ming W. et al. Review of Spacecraft Thermal Control Materials and Applications // Materials Reports. 2022. V. 36. Iss. 22. Art. ID. 22050193–6.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation>Kositsyn L. G., Mikhailov M. M., Kuznetsov N. Y. et al. Apparatus for study of Diffuse — Reflection and Luminescence Spectra of Solids in Vacuum // Instruments and Experimental Techniques. 1985. V. 28. P. 929–932.</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation>ASTM E490–00a(2019) Standard Solar Constant and Zero Air Mass Solar Spectral Irradiance Tables, 2022. https://www.astm.org/e0490–00ar19.html.</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation>ASTM E903–12 Standard Test Method for Solar Absorptance, Reflectance, and Transmittance of Materials Using Integrating Spheres, 2012.</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation>Boumaza A., Djelloul A., Guerrab F. Specific signatures of α-alumina powders prepared by calcination of boehmite or gibbsite // Powder Technology. 2010. V. 201. P. 177–180. DOI: 10.1016/j.powtec.2010.03.036.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation>Hosseini S. A., Niaei A., Salari D. Production of γ-Al2O3 from Kaolin // Open J. Physical Chemistry. 2011. V. 1. P. 23–27. DOI: 10.4236/OJPC.2011.12004.</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation>Roscoe J. M., Abbatt J. P.D. Diffuse Reflectance FTIR Study of the Interaction of Alumina Surfaces with Ozone and Water Vapor // J. Physical Chemistry A. 2005. V. 109. P. 9028–9034. DOI: 10.1021/jp050766r.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation>Clament Sagaya Selvam N., Thinesh Kumar R., John Kennedy L. et al. Comparative Study of Microwave and Conventional Methods for the Preparation and Optical Properties of Novel MgO-Micro and Nano-Structures // J. Alloys and Compounds. 2011. V. 509. P. 9809–9815. https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2011.08.032.</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>11.</label><mixed-citation>Stomp M., Huisman J., Stal L. J. et al. Colorful niches of phototrophic microorganisms shaped by vibrations of the water molecule // The ISME Journal. 2007. V. 1. P. 271–282.</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>12.</label><mixed-citation>Mikhailov M. M. Change in activation energy of surface conduction in polycrystalline zinc oxide upon irradiation by electrons // Soviet Physics J. 1984. V. 27. P. 624–627.</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>13.</label><mixed-citation>Kristianpoller N., Rehavi A., Shmilevich A. et al. Radiation effects in pure and doped Al2O3 crystals // Nuclear Instruments and methods in Physics Research. Section B. 1998. V. 141. P. 343–346. DOI: 10.1016/S0168-583X(98)00096-2.</mixed-citation></ref><ref id="B14"><label>14.</label><mixed-citation>Evans B. D., Pogatshnik G. J., Chen Y. Optical properties of lattice defects in α-Al2O3 // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B. 1994. V. 91. P. 258–2 62.</mixed-citation></ref><ref id="B15"><label>15.</label><mixed-citation>Watcharatharapong T., T-Thienprasert J., Limpijumnong S. Theoretical Study of Optical Properties of Native Point Defects in α-Al2O3 // Integrated Ferroelectrics. 2014. V. 156. P. 79–85. DOI: 10.1080/10584587.2014.906290.</mixed-citation></ref><ref id="B16"><label>16.</label><mixed-citation>Levy P. Color Centers and Radiation-Induced Defects in Al2O3 // Physical Review. 1961. V. 123. P. 1226–1233.</mixed-citation></ref><ref id="B17"><label>17.</label><mixed-citation>Aluker E.D., Gavrilov V. V., Chernov S. A. Short-lived Frenkel defects in α-Al2O3 // Physica Status Solidi. Section B. 1992. V. 171. P. 283–288.</mixed-citation></ref><ref id="B18"><label>18.</label><mixed-citation>Mikhailov M. M. Optical properties and radiation stability of Metal Oxide Powders modified with Nanoparticles. V. 6. Tomsk: Publ. House TUSUR, 2019. 312 p.</mixed-citation></ref><ref id="B19"><label>19.</label><mixed-citation>Mikhailov M.M., Yuryev S. A., Lapin A. N. et al. Reflective thermal control coating for spacecraft based on ZnO pigment and Li2SiO3 silicate modified by SiO2 nanoparticles // Ceramics International. 2023. V. 49. P. 20817–20821. DOI: 10.1016/j.ceramint.2023.03.214.</mixed-citation></ref><ref id="B20"><label>20.</label><mixed-citation>Михайлов М. М. Спектры отражения терморегулирующих покрытий космических аппаратов. Т. 1. Томск: Изд-во Томского ун-та, 2010. 322 с.</mixed-citation></ref></ref-list></back></article>
