ИЗМЕРЕНИЕ МАЛЫХ ПОТЕРЬ НА ПОЛЯРИЗАЦИЮ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО МАТЕРИАЛА В ГОТОВЫХ ДИОДАХ

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

Рассмотрен способ измерения потерь на поляризацию полупроводникового материала в области пространственного заряда готового диода. Показано, что измерение может быть выполнено методом сравнения с мерой емкостной добротности при помощи измерителей импеданса общего применения в лабораториях без стабилизации микроклимата и экранирования электромагнитных полей. Для исключения дрейфовой погрешности в этих условиях предлагается многократное регулярное переключение объекта измерения и меры. В результате тангенс угла потерь на поляризацию величиной 1.9 ⋅ 10–4 удалось измерить с погрешностью ±16%.

Об авторах

Э. В. Семенов

Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники

Email: edwardsemyonov@narod.ru
Россия, 634050, Томск, просп. Ленина, 40

О. Ю. Малаховский

АО “Научно-исследовательский институт полупроводниковых приборов”

Автор, ответственный за переписку.
Email: edwardsemyonov@narod.ru
Россия, 634034, Томск, Красноармейская ул., 99а

Список литературы

  1. Norwood M.H., Shatz E. // Proc. IEEE. 1968. V. 56. № 5. P. 788. https://doi.org/10.1109/PROC.1968.6408
  2. Barrera J.S., Curby R.C., DeFevere D.C., Kwan F.S., Nevin L.J., Solomon R. // 6th European Microwave Conference. Rome, Italy, 14–17 September 1976. P. 14. https://doi.org/10.1109/EUMA.1976.332237
  3. Poplavko Y.M. Electronic Materials. Principles and Applied Science. Oxford, United Kingdom: Elsevier, 2019. https://doi.org/10.1016/C2017-0-03281-0
  4. Krupka J., Mouneyrac D., Hartnett J.G., Tobar M.E. // IEEE Trans. Microwave Theory and Techniques. 2008. V. 56. № 5. P. 1201. https://doi.org/10.1109/TMTT.2008.921652
  5. Courtney W.E. // IEEE Trans. Microwave Theory and Techniques. 1977. V. 25. № 8. P. 697.
  6. Малаховский О.Ю., Гущин С.М., Фотина Л.В., Скотников Н.В., Скробов Е.В. Патент РФ 165025 U1, МПК H01L 29/93 // Опубл. 27.09.2016. Бюл. № 27. https://new.fips.ru/Archive4/PAT/2016FULL/2016.09.27/DOC/RUNWU1/000/000/000/165/025/DOCUMENT.PDF
  7. Baker-Jarvis J., Geyer R.G., Grosvenor J.H., Jr., Janezic M.D., Jones C.A., Riddle B., Weil C.M., Krupka J. // IEEE Trans. Dielectrics and Electrical Insulation. 1998. V. 5. № 4. P. 571.
  8. Resonant Coaxial-Line. Model 34A. Instruction Manual. Boonton Electronics Corp. Parsippany, New Jersey, USA, 2002. http://ftb.ko4bb.com/manuals/23.106.56.14/ Boonton_34A_Resonant_Coaxial_Line_Manual.pdf
  9. ГОСТ 18986.19–73. Варикапы. Метод измерения добротности. М.: ИПК Изд-во стандартов, 2004.
  10. Семенов Э.В., Малаховский О.Ю. // Докл. Томск. гос. ун-та систем управления и радиоэлектроники. 2018. Т. 21. № 4. С. 11. https://doi.org/10.21293/1818-0442-2018-21-4-11-16
  11. Yonekura T. // 10th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference. Hamamatsu, Japan, 10–12 May 1994. P. 1004. https://doi.org/10.1109/IMTC.1994.351935
  12. Shi L., He Y., Li B., Wu Y., Huang Y., Cheng T. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 2019. V. 68. № 9. P. 3244. https://doi.org/10.1109/TIM.2018.2878073
  13. Zhang L., Zhang D. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 2015. V. 64. № 7. P. 1790. https://doi.org/10.1109/TIM.2014.2367775
  14. Wang C. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 2015. V. 64. № 7. P. 1994. https://doi.org/10.1109/TIM.2014.2377991
  15. Zakrzewski J., Wróbel K. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 2002. V. 51. № 6. P. 1358. https://doi.org/10.1109/TIM.2002.808030
  16. Morawski R.Z., Podgórski A., Sutkowski K. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 1992. V. 41. № 6. P. 881. https://doi.org/10.1109/19.199426
  17. Janik D. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 1983. V. 32. № 1. P. 232. https://doi.org/10.1109/TIM.1983.4315048

Дополнительные файлы


© Э.В. Семенов, О.Ю. Малаховский, 2023