Информация об авторе
Kurganskii, S. I.
| Выпуск | Раздел | Название | Файл |
| № 8 (2023) | Статьи | Электронная структура тонких пленок диоксида олова |
Пользователь
Уведомления
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
атомно-силовая микроскопия
ионная имплантация
компьютерное моделирование
кремний
магнетронное распыление
метод Монте-Карло
микроструктура
модификация поверхности
морфология поверхности
нейтронная рефлектометрия
облучение
оксид цинка
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская дифракция
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
рентгенофазовый анализ
синхротронное излучение
структура
тонкие пленки
фазовый состав
Информация
×
Пользователь
Уведомления
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
атомно-силовая микроскопия
ионная имплантация
компьютерное моделирование
кремний
магнетронное распыление
метод Монте-Карло
микроструктура
модификация поверхности
морфология поверхности
нейтронная рефлектометрия
облучение
оксид цинка
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская дифракция
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
рентгенофазовый анализ
синхротронное излучение
структура
тонкие пленки
фазовый состав
Информация