<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE root>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="brief-report" dtd-version="1.2" xml:lang="en"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">Journal of Samara State Technical University, Ser. Physical and Mathematical Sciences</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="en">Journal of Samara State Technical University, Ser. Physical and Mathematical Sciences</journal-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Вестник Самарского государственного технического университета. Серия «Физико-математические науки»</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn publication-format="print">1991-8615</issn><issn publication-format="electronic">2310-7081</issn><publisher><publisher-name xml:lang="en">Samara State Technical University</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="publisher-id">636535</article-id><article-id pub-id-type="doi">10.14498/vsgtu2068</article-id><article-id pub-id-type="edn">GGJQTI</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en"><subject>Short Communications</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru"><subject>Краткие сообщения</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="article-type"><subject>Short Communication</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Analysis for two-component composite coatings in the production of electronic components by computer vision methods</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Анализ двухкомпонентных композиционных покрытий при производстве элементов электроники с использованием методов компьютерного зрения</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0003-3918-5340</contrib-id><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Nenashev</surname><given-names>Maksim V.</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Ненашев</surname><given-names>Максим Владимирович</given-names></name></name-alternatives><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><bio xml:lang="en"><p>Dr. Tech. Sci., Professor; First Vice-Rector–Vice-Rector for Scientific Work; University Administration</p></bio><bio xml:lang="ru"><p>доктор технических наук, профессор; первый проректор-проректор по научной работе; ректорат</p></bio><email>nenashev.mv@samgtu.ru</email><uri>https://www.mathnet.ru/person38904</uri><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0001-7337-268X</contrib-id><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Rachmanin</surname><given-names>Oleg S.</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Рахманин</surname><given-names>Олег Сергеевич</given-names></name></name-alternatives><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><bio xml:lang="en"><p>Cand. Tech. Sci., Associate Professor; Head of the Laboratory; Lab. of Digital Doubles of Materials and Technological Processes of their Processing</p></bio><bio xml:lang="ru"><p>кандидат технических наук, доцент; начальник лаборатории; лаб. цифровых двойников материалов и технологических процессов их обработки</p></bio><email>rakhmanin.os@samgtu.ru</email><uri>https://www.mathnet.ru/person204974</uri><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0001-9710-2860</contrib-id><name-alternatives><name xml:lang="en"><surname>Kiyashchenko</surname><given-names>Victoria V.</given-names></name><name xml:lang="ru"><surname>Киященко</surname><given-names>Виктория Витальевна</given-names></name></name-alternatives><address><country country="RU">Russian Federation</country></address><bio xml:lang="en"><p>Postgraduate Student; Junior Researcher; Lab. of Digital Doubles of Materials and Technological Processes of their Processing</p></bio><bio xml:lang="ru"><p>аспирант; младший научный сотрудник; лаб. цифровых двойников материалов и технологических процессов их обработки</p></bio><email>vv.kiyashchenko@gmail.com</email><uri>https://www.mathnet.ru/person204975</uri><xref ref-type="aff" rid="aff1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff1"><aff><institution xml:lang="en">Samara State Technical University</institution></aff><aff><institution xml:lang="ru">Самарский государственный технический университет</institution></aff></aff-alternatives><pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2024-09-02" publication-format="electronic"><day>02</day><month>09</month><year>2024</year></pub-date><volume>28</volume><issue>1</issue><issue-title xml:lang="en"/><issue-title xml:lang="ru"/><fpage>186</fpage><lpage>198</lpage><history><date date-type="received" iso-8601-date="2024-09-27"><day>27</day><month>09</month><year>2024</year></date><date date-type="accepted" iso-8601-date="2024-09-27"><day>27</day><month>09</month><year>2024</year></date></history><permissions><copyright-statement xml:lang="en">Copyright ©; 2024, Authors; Samara State Technical University (Compilation, Design, and Layout)</copyright-statement><copyright-statement xml:lang="ru">Copyright ©; 2024, Авторский коллектив; Самарский государственный технический университет (составление, дизайн, макет)</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="en">Authors; Samara State Technical University (Compilation, Design, and Layout)</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="ru">Авторский коллектив; Самарский государственный технический университет (составление, дизайн, макет)</copyright-holder><ali:free_to_read xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/"/><license><ali:license_ref xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/">https://creativecommons.org/licenses/by/4.0</ali:license_ref></license></permissions><self-uri xlink:href="https://journals.eco-vector.com/1991-8615/article/view/636535">https://journals.eco-vector.com/1991-8615/article/view/636535</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>A method for analyzing two-component composite coatings in the production of electronic components is presented, based on a system of mathematically grounded image processing algorithms. This method allows for the determination of the specific surface area, total material area, and contact boundaries, ensuring high accuracy and result stability. The obtained results can be successfully integrated into industrial processes for material quality assessment and production control. Within the scope of the study, an information-measurement image processing system has been developed, minimizing error accumulation at each stage and ensuring high precision in determining material characteristics. Examples of successful method application are presented, highlighting its effectiveness and prospects in various areas, including industrial production of electronic components. The obtained results serve as a basis for further research and refinement of methods for analyzing composite materials.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Представлен метод анализа двухкомпонентных композиционных покрытий при производстве элементов электроники, основанный на системе математически обоснованных алгоритмов обработки изображений. Метод позволяет определять удельную поверхность, общую площадь материала и границы контакта, обеспечивая высокую точность и стабильность результатов. Полученные результаты могут быть успешно внедрены в промышленные процессы для оценки качества материалов и контроля производства. В рамках работы создана информационно-измерительная система обработки изображений, минимизирующая накопление ошибок на каждом этапе и обеспечивающая высокую точность определения характеристик материалов. Представлены примеры успешного применения метода, подчеркивающие его эффективность и перспективы в различных областях, включая промышленное производство элементов электроники. Полученные результаты представляют собой основу для дальнейших исследований и усовершенствования методов анализакомпозиционных материалов.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="en"><kwd>composite coatings</kwd><kwd>image analysis</kwd><kwd>specific surface area</kwd><kwd>verification of the electronic components production</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>композиционные покрытия</kwd><kwd>анализ изображений</kwd><kwd>удельная поверхность</kwd><kwd>контроль производства элементов электроники</kwd></kwd-group><funding-group><funding-statement xml:lang="en">The research was carried out with the financial support of the Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation within the framework of the state task (theme no. AAAAA12-2110800012-0)</funding-statement><funding-statement xml:lang="ru">Исследование выполнено при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации в рамках государственного задания (тема № АААА-А12-2110800012-0)</funding-statement></funding-group></article-meta></front><body></body><back><ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Nikolaev V. M., Vertianov D. V., Shishov A. M., et al. Review of existing technologies for the formation of microelectronic devices on plastic substrates, In: Sovremennye tendentsii v nauchnoi deiatel’nosti [Modern Trends in Scientific Activity], VII Intern. Sci.-Pract. Conf. (Moscow; 28 December, 2015). Moscow, Sci. Center “Olimp”, 2015, pp. 981–989 (In Russian). EDN: VDXLQZ.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Николаев В. М., Вертянов Д. В., Шишов А. М. [и др.] Обзор существующих технологий формирования микроэлектронных устройств на пластичных основаниях / Современные тенденции в научной деятельности: VII Международная научно-практическая конференция (Москва, 28 декабря 2015 г.). М.: Научный центр «Олимп», 2015. С. 981–989. EDN: VDXLQZ.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B2"><label>2.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Anisovich A. G. Particularities of metallographic preparation for the analysis of thin layers and coatings. foundry production and metallurgy, Foundry Production and Metallurgy, 2020, no. 2, pp. 59–62 (In Russian). EDN: MPCJQQ. DOI: https://doi.org/10.21122/1683-6065-2020-2-59-62.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Анисович А. Г. Особенности металлографического препарирования для анализа тонких слоев и покрытий // Литье и металлургия, 2020. №2. С. 59–62. EDN: MPCJQQ. DOI: https://doi.org/10.21122/1683-6065-2020-2-59-62.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B3"><label>3.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Letckovnik A. V., Bryleva O. V., Kabankov A. I., Semicheva L. G. Methodology for preparing microsections for metallographic and micro-X-ray spectral analyzes of metal-polymer compounds, Aktualnye Problemy Aviatsii Kosmonavtiki, 2014, vol. 1, no. 10, pp. 107–108 (In Russian). EDN: PFSCXB.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Лецковник А. В., Брылева О. В., Кабанков А. И., Семичева Л. Г. Методика подготовки микрошлифов для металлографического и микрорентгеноспектрального анализов металлополимерных соединений // Актуальные проблемы авиации и космонавтики, 2014. Т. 1, №10. С. 107–108. EDN: PFSCXB.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B4"><label>4.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Padalko V. S., Zryumova A. G., Karelin I. S., Iskusnova N. V. Development of a composite material for creating flexible strain gauge sensors, Polzunovskii Almanakh, 2021, no. 4, pp. 144–145 (In Russian). EDN: RHUGSU.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Падалко В. С., Зрюмова А. Г., Каредин И. С., Искуснова Н. В. Разработка композитного материала для создания гибких тензометрических датчиков // Ползуновский альманах, 2021. №4. С. 144–145. EDN: RHUGSU.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B5"><label>5.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Novikov A., Novottnik M. Heat-dissipating composite material coating for high temperature electronics, Tekhnologii Elektronnoi Promyshlennosti, 2017, no. 4(96), pp. 48–51 (In Russian). EDN: ZCMRHL.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Новиков А., Новоттник М. Теплоотводное покрытие из композитного материала для высокотемпературной электроники // Технологии в электронной промышленности, 2017. №4(96). С. 48–51. EDN: ZCMRHL.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B6"><label>6.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Tereschenok A., Potapov S. New composite materials for thermoregulation of high-power electronics, Electronics: Science, Technology, Business, 2022, no. 8(219), pp. 62–67 (In Russian). EDN: KMUDKQ. DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2022.219.8.62.66.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Терешенок А., Потапов С. Новые композитные материалы для терморегуляции мощной электроник // Электроника: Наука, технология, бизнес, 2022. №8(219). С. 62–67. EDN: KMUDKQ. DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2022.219.8.62.66.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B7"><label>7.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Terekhova Yu. S., Kiselev D. A., Solnyshkin A. V. Scanning probe microscopic study of P(VDF-TrFE) based ferroelectric nanocomposites, Modern Electronic Materials, 2021, vol. 7, no. 1, pp. 11–16. EDN: EAVYXE. DOI: https://doi.org/10.3897/j.moem.7.1.73283.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Терехова Ю. С., Киселев Д. А., Солнышкин А. В. Исследование сегнетоэлектрических нанокомпозитов на основе P(VDF-TrFE) методами сканирующей зондовой микроскопии // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники, 2021. Т. 24, №2. С. 71–78. EDN: TGQRRK. DOI: https://doi.org/10.17073/1609-3577-2021-2-71-78.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B8"><label>8.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Khmyl A. A., Lanin V. L., Emelyanov V. A. Gal’vanicheskie pokrytiia v izdeliiakh elektroniki [Galvanic Coatings in Electronics Products]. Minsk, Integralpoligraf, 2017, 480 pp. (In Russian). EDN: CHSIYS.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Хмыль А. А., Ланин В. Л., Емельянов В. А. Гальванические покрытия в изделиях электроники. Минск: Интегралполиграф, 2017. 480 с. EDN: CHSIYS.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B9"><label>9.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Mustafaev G. A., Mustafaeva D. G., Mustafaev M. G. Obtaining of dielectric coatings, uniform by their structure and thickness, during formation of the instrument structures, Nanoand Microsystems Technology, 2017, vol. 19, no. 3, pp. 131–136 (In Russian). EDN: YHXAKZ. DOI: https://doi.org/10.17587/nmst.19.131-136.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Мустафаев Г. А., Мустафаева Д. Г., Мустафаев М. Г. Получение однородных по структуре и равномерных по толщине диэлектрических покрытий при формировании приборных структур // Нано- и микросистемная техника, 2017. Т. 19, №3. С. 131–136. EDN: YHXAKZ. DOI: https://doi.org/10.17587/nmst.19.131-136.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="B10"><label>10.</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="en">Gonzalez R. C., Woods R. E. Digital Image Processing. New York, Pearson Education, 2018, 1019 pp.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="ru">Gonzalez R. C., Woods R. E. Digital Image Processing. New York: Pearson Education, 2018. 1019 pp.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list></back></article>
