Elektronika: Nauka, Tekhnologiya, Biznes
ISSN 1992-4178 (Print)
ISSN 1992-4186 (Online)
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Reliability and validation
Reliability and validation
Edição
Título
Arquivo
Nº 6 (237) (2024)
Basic mechanisms of influence of special factors on the semiconductor structure
(Rus)
Selin D.
Nº 4 (235) (2024)
Use of electronic components with expired storage period
(Rus)
Dudunov A.
Nº 2 (233) (2024)
Methods for predicting ic durability based on parametric failures
(Rus)
Strogonov A.
Nº 2 (233) (2024)
Improving the reliability characteristics of multi-lead metal-ceramic packages from ZPP JSC through the use of test systems
(Rus)
Ermilov R., Shugaepov S., Ermolaev E., Egoshin V.
Nº 2 (233) (2024)
X-ray inspection technology
(Rus)
Aleinikov P.
Nº 2 (223) (2023)
TESTPRIBOR JSC test center: how to guarantee reliability
(Rus)
Shekhovtsova E.
Nº 8 (229) (2023)
How to automate control of manual operations?
(Rus)
Aleinikov P.
Nº 8 (229) (2023)
Incoming inspection of materials is the basis for the quality of metal-ceramic packages from ZPP JSC
(Rus)
Shugaepov S., Ermolaev E., Egoshin V., Khanina Y.
Nº 7 (228) (2023)
Contacting devices and carriers from ZPP JSC for IC testing
(Rus)
Shugaepov S., Ermolaev E., Egoshin V., Magidov E.
Nº 6 (227) (2023)
Miracles don’t happen. But many still hope on them
(Rus)
Vasilenko A.
Nº 6 (227) (2023)
Practical aspects of tests for the immunity of equipment to low-frequency conducted interference, carried out according to defense and aviation standards
(Rus)
Smirnov A.
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