Оценка флуктуаций электродного потенциала алюминия в хлоридсодержащих растворах при анодной поляризации микротоками

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

Структура интегральных кривых, полученных при обработке хронопотенциограмм (ХПГ) алюминиевого анода, поляризуемого слабым (на уровне одного-нескольких мкА/см2) током в хлоридсодержащей среде, носит самоподобный характер. Это универсальное свойство позволяет найти их подгоночную функцию и вычислить редуцированную (сжатую зависимость; исходное число точек — 1000, описываемое числом мод АЧХ-14). Начальная кривая инвариантна по отношению к своему преобразованному аналогу после пятикратного сжатия. Для двух различных типов данных, полученных при разомкнутой цепи и при поляризации металла микротоком, можно получить общую платформу фитинга, связанную с его параметрами. Существуют различные методы детрендирования: т. е. получение тренда из исходного бестрендового шума. Наиболее простой способ получения тренда, не дающего вычислительных ошибок, получается из формулы численного интегрирования методом трапеций. Именно этот тренд, получаемый из исходной бестрендовой последовательности без дополнительных ошибок обработки данных, имеет смысл определить как четкий тренд. Параметры аппроксимации можно использовать для сравнения различных случайных процессов, в том числе, обусловленных протеканием реакций на поверхности металла с изменением ее микрорельефа в течение окислительно-восстановительных процессов.

Об авторах

Р. Р. Нигматуллин

Казанский национальный исследовательский технический университет им. А. Н. Туполева

Email: renigmat@gmail.com
420015, Казань, Россия

А. Ф. Дресвянников

Казанский национальный исследовательский технологический университет

Email: a.dresvyannikov@mail.ru
420015, Казань, Россия

Список литературы

  1. Nişancioğlu K., Holtan H. // Electrochim. Acta. 1979. № 24. P. 1229
  2. Hurlen T., Lian H., Ødegard O.S., Valant T. // Electrochim. Acta. 1984. № 29. P. 579
  3. Lenderink H.J.W., van der Linden M., de Wit J.H.W. // Electrochim. Acta. 1993. № 38. P. 1989
  4. Kolics A., Besing A.S, Baradlai P., et al. // J. Electrochem. Soc. 2001. № 148. P. B251.
  5. Verpoort F., Haemers T., Roose P., Maes J.P. // Appl. Spectr. 1999. № 53. P. 1528.
  6. Al Mayouf A.M. // Corr. Prev. Control. 1996. 43. P. 68.
  7. Radošević J., Kliškić M., Despić A.R. // J. Appl. Electrochem. 1992. № 22. P. 649.
  8. Garrigues L., Pebere N., Dabosi F. // Electrochim. Acta. 1996. № 41. P. 1209.
  9. Burri G., Luedi W., Haas O. // J. Electrochem. Soc. 1989. № 136. P. 267.
  10. Equey J.-F., Müller S., Desilvestro J., Haas O. // Ibid. Soc. 1992. № 139. P. 1499.
  11. Breslin C.B., Rudd A.L. // Corros. Sci. 2000. № 42. P. 1023.
  12. Aballe A., Bethencourt M., Botana F.J., Marcos M. // Electrochim. Acta. 1999. № 44. P. 4805.
  13. Pagitsas M., Sazou D. // J. Electroanal. Chem. 1999. № 471. P. 132.
  14. Uruchurtu J.C., Dawson J.L. // Corrosion. 1987. № 43. P. 19.
  15. Isaac J.W., K.R. Hebert J. // Electrochem. Soc. 1999. № 146. P. 502.
  16. Mansfeld F., Xiao H., Han L.T., Lee C.C. // Prog. Org. Coat. 1997. № 30. P. 89.
  17. Mansfeld F., Lee C.C. // J. Electrochem. Soc. 1997. № 144. P. 2068.
  18. Greisiger H., Schauer T. // Prog. Org. Coat. 2000. № 39. P. 31.
  19. Mills D.J., Mabbutt S. // Ibid. 2000. № 39. P. 41.
  20. Nagiub A., Mansfeld F. // Corros. Sci. 2001. № 43. P. 2001.
  21. Tan Y.J., Bailey S., Kinsella B. // Ibid. 2002. № 44. P. 1277.
  22. Aballe A., Bethencourt M., Botana F.J., et al. // Electrochim. Acta. 2002. № 47. P. 1415.
  23. Mansfeld F., Sun Z., Hsu C.H. // Ibid. 2001. № 46. P. 3651.
  24. Smulko J., Darowicki K., Zieliński A. // Ibid. 2002. № 47. P. 1297.
  25. Bierwagen G.P. //J. Electrochem. Soc. 1994. № 141. P. L155
  26. Bertocci U., Gabrielli C., Huet F., Keddam M. // Ibid. 1997. № 144. P. 31.
  27. Mansfeld F., Xiao H. // Ibid. 1994. № 141. P. 1403.
  28. Xiao H., Mansfeld F. // Ibid. 1994. № 141. P. 2332.
  29. Mansfeld F., Sun Z., Hsu C.H., Nagub A. // Corros. Sci. 2001. № 43. P. 341.
  30. Cheng Y.F., Luo J.L., Wilmott M. // Electrochim. Acta. 2000. № 45. P. 1763.
  31. Bautista A., Bertocci U., Huet F. // J. Electrochem. Soc. 2001. № 148. P. B412.
  32. Lowe A.M., Eren H., Bailey S.I. // Corros. Sci. 2003. № 45. P. 941.
  33. Cottis R.A., Al-Awadhi M.A.A., Al-Mazeedi H., Turgoose S. // Electrochim. Acta. 2001. № 46. P. 3665.
  34. Smulko J., Darowicki K. // J. Electroanal. Chem. 2003. № 545. P. 59.
  35. Aballe A., Huet F. // J. Electrochem. Soc. 2002. № 149. P. B89.
  36. Cottis R.A. Interpretation of electrochemical noise data // Corrosion. 2001. 57. P. 265.
  37. Mansfeld F. // Proceedings of the 18th Int. Conference on Noise and Fluctuations-ICNF; 2005 Aug 24; Los Angeles, CA (USA): American Institute of Physics; 2005. P. 623.
  38. Pride S.T, Scully J.R, Hudson J.L. // J. Electrochem Soc. 1994. № 141. P. 3028.
  39. Lou W, Ogura K. // Electrochim. Acta. 1995. № 40. P. 667.
  40. Sazou D., Diamantopoulou A., Pagitsas M. // J. Electroanal Chem. 2000. № 489. P. 1.
  41. Bassett M.R, Hudson J.L. // J. Phys. Chem. 1989. № 93. P. 2731.
  42. Dewald H.D., Parmananda P., Rollins R.W. // J. Electrochem Soc. 1993. № 140. P. 1969.
  43. Press W.H., Flannery B.P., Teukolsky S.A. et al. // Cambridge (UK). V. 1. Cambridge University Press, 1992. 963 p.
  44. Schauer T., Greisiger H., Dulog L. // Electrochim Acta. 1998. № 43. P. 2423.
  45. Burg J.P. Modern Spectrum Analysis. / Ed by D.G. Childers. New York (NY): IEEE Press, 1978. 334 p.
  46. Pujar M.G., Anita T., Shaikh H., et al. // Int. J. Electrochem. Sci. 2007. № 2. P. 301.
  47. Bertocci U., Frydman J., Gabrielli C., et al. // J. Electrochem. Soc. 1998. № 145. P. 2780.
  48. Van den Bos A. // IEEE Trans. Inform. Theory. 1997. № 17. P. 493.
  49. Edward J.A., Fitelson M.M. // IEEE Trans. Inform. Theory. 1973. № 19. P. 232.
  50. Nigmatullin Raoul R., Yang Quan Chen // Mathematics. 2023. № 11. P. 278.
  51. Nigmatullin R.R., Lino P., Maione G. // New Digital Signal Processing Methods Applications to Measurement and Diagnostics. ISBN978-3-030-45359-6 (eBook). https://doi.org/10.1007/978-3-030-45359-6. Springer, 2020.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Российская академия наук, 2025