Statistical analysis of the influence of time intervals on the result of measuring the force on the probe of RoundTest RA-120P roundness tester

K. Epifantsev; Епифанцев К.

doi:10.22184/1992-4178.2024.233.2.120.125

Статистический анализ влияния временных интервалов на результат измерения усилия на щупе кругломера RoundTest RA-120P

Авторы: Епифанцев К.¹
Учреждения:
1. Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения
Выпуск: № 2 (233) (2024)
Страницы: 120-125
Раздел: Контроль и измерения
URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/629563
DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2024.233.2.120.125
ID: 629563

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация
Полный текст
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

Рассмотрена проблема калибровки кругломера RoundTest RA-120P. Получены результаты, определяющие оптимальные значения двух параметров при проведении центрирования/нивелирования. Результаты будут полезны при планировании и проведении измерений и контроля деталей – тел вращения – на кругломере RoundTest RA-120P.

Ключевые слова

кругломер, калибровка кругломера, коэффициент давления на щуп, временные интервалы

Полный текст

Об авторах

К. Епифанцев

Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения

Автор, ответственный за переписку.
Email: redactor@electronics.ru

к. т. н., доцент

Россия

Список литературы

ГОСТ 17353-89. Кругломеры. Типы. Основные параметры. Технические требования. М.: Изд-во стандартов, 1999. 8 с.
Гущина Е.А., Ефремов Н.Ю., Епифанцев К.В. Цифровая метрология: учеб.- метод. пособие. СПб: ГУАП, 2022. 104 с.
Епифанцев К.В. Измерение дефектов геометрии. Алгоритм формирования круглограммы ROUNDTEST RA-120Р // ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, технология, бизнес. 2022. № 10 (221). С. 48–51.
Епифанцев К.В., Ефремов Н.Ю. Исследование процесса калибровки процесса калибровки и настройки датчиков кругломера ROUNDTEST RA-120P // Датчики и системы. 2022. № 5. С. 57–62.