Силовые кривые в сканирующей зондовой микроскопии
- Авторы: Ахметова А.И.1,2, Дубровин Е.В.1, Яминский И.В.1,2
-
Учреждения:
- МГУ имени М.В.Ломоносова
- ООО НПП "Центр перспективных технологий"
- Выпуск: Том 18, № 3-4 (2025)
- Страницы: 204-210
- Раздел: Нанотехнологии
- URL: https://journals.eco-vector.com/1993-8578/article/view/684392
- DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3-4.204.210
- ID: 684392
Цитировать
Полный текст



Аннотация
Силовые кривые в атомно-силовой микроскопии (АСМ) позволяют получить совокупность механических свойств образца. Среди них упругие, адгезионные, прочностные свойства. Измерение силовых кривых широко используется при изучении биологических объектов. Эти кривые необходимы для понимания различных свойств материалов и взаимодействий в наномасштабе, в частности, для изучения эластичности, жесткости и адгезионных свойств биологических образцов. Силовые кривые используются для изучения молекулярных взаимодействий, таких как разрыв связей и растяжение полимера. Силовое катирование или объемные карты распределения силовых кривых помогают реконструировать пространственное распределение механических свойств.
Полный текст

Об авторах
А. И. Ахметова
МГУ имени М.В.Ломоносова; ООО НПП "Центр перспективных технологий"
Email: yaminsky@nanoscopy.ru
ORCID iD: 0000-0002-5115-8030
к.ф.-м.н., ст. науч. сотр., вед. спец.
Россия, Москва; МоскваЕ. В. Дубровин
МГУ имени М.В.Ломоносова
Email: yaminsky@nanoscopy.ru
ORCID iD: 0000-0001-8883-5966
д.ф.-м.н., вед. науч. сотр.
Россия, МоскваИ. В. Яминский
МГУ имени М.В.Ломоносова; ООО НПП "Центр перспективных технологий"
Автор, ответственный за переписку.
Email: yaminsky@nanoscopy.ru
ORCID iD: 0000-0001-8731-3947
д.ф.-м.н., проф., ген. дир.
Россия, Москва; МоскваСписок литературы
- Butt Hans-Jürgen, Cappella B., Kappl M. Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface science reports. 2005. Vol. 59 (1–6). https://doi.org/10.1016/j.surfrep.2005.08.003.
- Hartmann B. et al. Profiling native pulmonary basement membrane stiffness using atomic force microscopy. Nat Protoc. 2024. Vol. 19(5). PP. 1498–1528. https://doi.org/10.1038/s41596-024-00955-7
- Yen M.H., Chen Y.H., Liu Y.S., Lee O.K. Alteration of Young’s modulus in mesenchymal stromal cells during osteogenesis measured by atomic force microscopy. Biochem Biophys Res Commun. 2020. Vol. 4. No. 526(3). PP. 827–832. https://doi.org/10.1016/j.bbrc.2020.03.146
- Bolshakova A.V., Kiseleva O.I., Nikonorova N.I., Yaminsky I.V. Chapter Scanning probe microscopy of block copolymers in Collection of laboratory works. Practical training in scanning probe microscopy. Moscow: Advanced Technologies Center, 2009, 143 p.
- Gaboriaud F., Dufrêne Y.F. Atomic force microscopy of microbial cells: application to nanomechanical properties, surface forces and molecular recognition forces. Colloids Surf B Biointerfaces. 2007. Vol. 15. No. 54(1). PP. 10–9. https://doi.org/10.1016/j.colsurfb.2006.09.014
- Dinarelli S., Girasole M., Longo G. FC_analysis: a tool for investigating atomic force microscopy maps of force curves. BMC Bioinformatics. 2018. Vol. 6. No. 19(1). P. 258. https://doi.org/10.1186/s12859-018-2265-4
Дополнительные файлы
