Метод исследования взаимной ориентации поверхностей пластин, изготовленных из оптически прозрачных материалов

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

В данной статье описано устройство для оперативного контроля углов наклона и углов между гранями прозрачных в диапазоне видимого излучения пластин. Рассчитан диапазон значений углов, которые позволяет измерять данная установка. Измерения и расчеты коэффициентов отражения образцов из кремния, сапфира, кварца и полиметилметакрилата, поверхности которых имеют различную шероховатость, позволили сформулировать ограничение на качество исследуемой поверхности: среднеквадратичная шероховатость не должна превышать 50 нм.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

Г. Х. Султанова

Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"; Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Московский физико-технический институт (Национальный исследовательский университет)"

Email: useinov@mail.ru
ORCID iD: 0000-0002-4770-5724

младший научный сотрудник

Россия, Троицк; Долгопрудный

А. А. Пракаш

Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"; Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Московский физико-технический институт (Национальный исследовательский университет)"

Email: useinov@mail.ru
ORCID iD: 0009-0003-8615-7972

стажер-исследователь

Россия, Троицк; Долгопрудный

Е. В. Гладких

Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"

Email: useinov@mail.ru
ORCID iD: 0000-0001-8273-3934

кандидат физико-математеческих наук, научный сотрудник

Россия, Троицк

А. А. Русаков

Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"

Email: useinov@mail.ru
ORCID iD: 0000-0001-5702-1353

младший научный сотрудник

Россия, Троицк

Н. В. Корнилов

Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"

Email: useinov@mail.ru
ORCID iD: 0000-0001-6449-4562

кандидат физико-математических наук, вед. научный сотрудник

Россия, Троицк

А. С. Усеинов

Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"

Автор, ответственный за переписку.
Email: useinov@mail.ru
ORCID iD: 0000-0002-9937-0954

кандидат физико-математических наук, зам. директор по научной работе

Россия, Троицк

Список литературы

  1. Seal M. Thermal and optical applications of thin film diamond. Phil. Trans. R. Soc. Lond. A. 1993. Vol. 342. No. 1664. PP. 313–322. https://doi.org/10.1098/rsta.1993.0024
  2. Stoupin S., Terentyev S.A., Blank V.D. et al. All-diamond optical assemblies for a beam-multiplexing X-ray monochromator at the Linac Coherent Light Source. J. Appl. Crystallogr. 2014. Vol. 47. No. 4. PP. 1329–1336. https://doi.org/10.1107/S1600576714013028
  3. Stoupin S., Krawczyk T., Liu Z. et al. Selection of CVD Diamond Crystals for X-ray Monochromator Applications Using X-ray Diffraction Imaging. Crystals. 2019. Vol. 9. No. 8. https://doi.org/10.3390/cryst9080396
  4. Polyakov S.N., Digurov R.V., Martyushov S.Y. et al. X-ray micro-beam characterization of an elastically bent thin diamond plate for x-ray optics applications. J. Opt. Soc. Am. B. 2023. Vol. 40. No. 7. PP. 1844–1850. https://doi.org/10.1364/JOSAB.488940
  5. Tao Y., Boss J.M., Moores B.A. et al. Single-crystal diamond nanomechanical resonators with quality factors exceeding one million. Nat. Commun. 2014. Vol. 5. No. 1. P. 3638. https://doi.org/10.1038/ncomms4638
  6. Graziosi T., Mi S., Kiss M. et al. Single crystal diamond micro-disk resonators by focused ion beam milling. APL Photonics. 2018. Vol. 3. No. 12. P. 126101. https://doi.org/10.1063/1.5051316
  7. Kobayashi J., Uesu Y. A new optical method and apparatus `HAUP’ for measuring simultaneously optical activity and birefringence of crystals. I. Principles and construction. J. Appl. Crystallogr. 1983. Vol. 16. No. 2. PP. 204–211. https://doi.org/10.1107/S0021889883010262
  8. Hernández-Rodríguez C., Gómez-Garrido P. Optical anisotropy of quartz in the presence of temperature-dependent multiple reflections using a high-accuracy universal polarimeter. J. Phys. D. Appl. Phys. 2000. Vol. 33. No. 22. P. 2985. https://doi.org/10.1088/0022-3727/33/22/318
  9. Herreros-Cedrés J., Hernández-Rodríguez C., Guerrero-Lemus R. Influence of the imperfect parallelism of crystal faces on high-accuracy universal polarimeter measurements. J. Opt. A Pure Appl. Opt. 2006. Vol. 8. No. 1. P. 44. https://doi.org/10.1088/1464-4258/8/1/007
  10. Maslenikov I.I., Reshetov V.N., Useinov A.S. et al. In Situ Surface Imaging Through a Transparent Diamond Tip. Instrum. Exp. Tech. 2018. Vol. 61. No. 5. PP. 719–724. https://doi.org/10.1134/S002044121804022X
  11. Султанова Г.Х., Усеинов А.С., Дигуров Р.В. et al. Моделирование оптических отклонений в изображениях, получаемых через индентор-объектив, для комбинированных исследований механических свойств in-situ. Изв. вузов. Химия и хим. технология. 2023. T. 66. № 10. С. 97–101. https://doi.org/10.6060/ivkkt.20236610.10y
  12. Востоков H.В., Гапонов С.В., Миронов В.Л. et al. Определение эффективной шероховатости поверхности и угловой зависимости коэффициента отражения в рентгеновском диапазоне длин волн по данным атомно-силовой микроскопии. Поверхность. Рентген. синхротр. и нейтрон. исслед. 2001. № 1. С. 38.
  13. Bennett H.E., Porteus J.O. Relation Between Surface Roughness and Specular Reflectance at Normal Incidence. J. Opt. Soc. Am. 1961. Vol. 51. № 2. PP. 123–129. https://doi.org/10.1364/JOSA.51.000123
  14. Trezza T.A., Krochta J.M. Specular reflection, gloss, roughness and surface heterogeneity of biopolymer coatings. J. Appl. Polym. Sci. 2001. Vol. 79. No. 12. PP. 2221–2229. https://doi.org/10.1002/1097-4628(20010321)79:12 < 2221::AID-APP1029 > 3.0.CO;2-F

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать
2. Рис.1. Схема установки

Скачать (49KB)
Метаданные
3. Рис.2. Зависимость расстояния между рефлексами на экране установки от показателя преломления образца при толщине образца d = 10 мм

Скачать (37KB)
Метаданные
4. Рис.3. Зависимость смещения рефлекса от угла наклона образца

Скачать (41KB)
Метаданные
5. Рис.4. Зависимость угла между гранями образцов с различными показателями преломления от величины смещения рефлекса

Скачать (61KB)
Метаданные

© Султанова Г.Х., Пракаш А.А., Гладких Е.В., Русаков А.А., Корнилов Н.В., Усеинов А.С., 2024