Том 18, № 6 (2025)

Показана применимость метода цифровой корреляции изображений (ЦКИ) к топографиям атомно-силовой микроскопии (АСМ) при локальной нагрузке. Исследован технически чистый титан Grade 4 после равноканального углового прессования по схеме Конформ. Локальная деформация формировалась микросферическим алмазным индентором (R = 2,5 мкм). АСМ-сканирование области до/после вдавливания выполнялось с регистрацией по квадратному шаблону царапин (~1 мкм). Предобработка включала подавление артефактов и выравнивание поля. Субпиксельная ЦКИ по локальным окнам обеспечила восстановление радиальной и тангенциальной компонент поля смещений. Получены непрерывные карты, фиксирующие распространение возмущений за пределы контактной зоны и особенности локальной пластической деформации. Результаты подтверждают техническую реализуемость и информативность ЦКИ для количественного картирования смещений при наноиндентировании ультрамелкозернистого титана.

В современной метрологии размер атома определяется статистически как половина межатомного расстояния в кристаллической решетке, а не через прямое измерение изолированного атома. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) и атомно-силовая микроскопия (АСМ) – ключевые инструменты для прямого наблюдения и измерения геометрии отдельных атомов, слабо связанных с подложкой. Изображение, получаемое в СТМ, – это пространственное распределение электронной плотности внешней оболочки атома. Хотя СТМ традиционно считается более детальным методом, АСМ с модифицированными зондами в некоторых случаях может предоставить лучшее разрешение и возможность химической идентификации атомов. В данной статье мы собрали данные о наблюдении атомов и измерении их размеров с помощью сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопов.

В данной работе продемонстрировано сужение спектральной линии лазера с распределенной обратной связью 210 кГц до 150 Гц в режиме самозахвата частоты внешнего кремниевого резонатора на основе фотонной интегральной схемы, что открывает перспективы создания компактных узкополосных лазеров для генерации малошумных микроволновых сигналов.

В работе представлены результаты исследования по определению толщины металлических покрытий на углеродных волокнах и микроструктуры металломатричных композиционных материалов на основе алюминия, армированного модифицированными углеродными волокнами. В качестве модификатора для углеродных волокон выступали защитные покрытия из металлов, такие как никель и медь. Данные покрытия позволили осуществить пропитку углеродного волокна расплавом алюминия с применением жидкофазного метода и получить высокоармированные металломатричные композиционные материалы с объемным содержанием углеродного волокна 72–75%.