Email this article Influences of optical faktor on estimate of surface roughess by optico-electronic complex
- Authors: Abramov A.D1
-
Affiliations:
- Samara State Technical University
- Issue: Vol 20, No 2 (2012)
- Pages: 45-52
- Section: Articles
- URL: https://journals.eco-vector.com/1991-8542/article/view/19687
- DOI: https://doi.org/10.14498/tech.2012.2.%25u
- ID: 19687
Cite item
Full Text
Abstract
This paper presents a method of compensation of the supplementary measurement error by the
optic-electronic means of the surface microgeometry parameters, which appears as a result of
the value of reference incident light deviation. The Method is based on determining autocorrelative
functions by the vision of surfaces being analyzed.
optic-electronic means of the surface microgeometry parameters, which appears as a result of
the value of reference incident light deviation. The Method is based on determining autocorrelative
functions by the vision of surfaces being analyzed.
About the authors
Aleksey D Abramov
Samara State Technical University
Email: esib@samgtu.ru
(к.т.н., доц.), доцент каф. электронных систем и информационной безопасности; Самарский государственный технический университет; Samara State Technical University
References
- Уайтхауз Д. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы: Научное издание / Д. Уайтхауз. - Долгопрудный: Интеллект, 2009. - 472 с.
- Дунин-Барковский И.В., Карташова А.Н. Измерение и анализ шероховатости, волнистости и некруглости поверхности. - М: Машиностроение, 1987. - 232 с.
- Ким К.Ю. Исследование и разработка оптического метода бесконтактного контроля шероховатости поверхностей. Дисс. ... канд. техн. наук. - М.: Гос. техн. ун-т электронной техники, 2009. 150 с.
- Абрамов А.Д. Определение микрогеометрии поверхности деталей машин и механизмов на основе компьютерной обработки их видеоизображений. - М.: Вестник компьютерных и информационных технологий, 2008. - № 11. - С. 18-25.
- ГОСТ 8.009-72. Нормируемые метрологические характеристики. Средства измерения.
- Измерение электрических и неэлектрических величин: Учеб. пособие для вузов / Н.Н. Евтихеев, Я.А. Купершмидт, В.Ф. Папуловский, В.Н. Скугоров. - М.: Энергоатомиздат, 1990. - 352 с. 52
- Прэтт У. Цифровая обработка изображений. Том 2. - М.: Мир, 1982. - 790 с.
- Даджион Д., Мерсеро Р. Цифровая обработка многомерных сигналов. - М.: Мир, 1988. - 486 с.
Supplementary files
