Информация об авторе
Севостьянова, Д. А.
| Выпуск | Раздел | Название | Файл |
| Том 17, № 5 (2024) | Оборудование для наноиндустрии | Разработка широкопольного сканера-профилометра и новых способов измерения твердости для первого в мире атомно-силового микроскопа – спутника Земли |