Сканирующая капиллярная микроскопия для биологических применений

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

Сканирующая капиллярная микроскопия – оптимальный инструмент для бесконтактной визуализации живых клеток и измерения их механических свойств. Капиллярную микроскопию все чаще используют для исследования межклеточных контактов, для оценки морфологии при разных условиях роста клеточной культуры, для визуализации и измерения топографии срезов тканей. Бесконтактная визуализация без использования меток и фиксации, возможность исследования в жидких средах с высоким пространственным разрешением, проведение длительных экспериментов с живыми объектами делают капиллярную микроскопию важным и актуальным инструментом в современных исследованиях. Поэтому совершенствование устройства капиллярного микроскопа, внутренней архитектуры, механики, электроники и программного обеспечения представляет особый интерес.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

А. И. Ахметова

МГУ имени М.В.Ломоносова; ООО НПП "Центр перспективных технологий"

Email: yaminsky@nanoscopy.ru
ORCID iD: 0000-0002-5115-8030

к.ф.-м.н., науч. сотр., вед. спец., МГУ имени М.В.Ломоносова, физический факультет

Россия, Москва; Москва

А. Д. Терентьев

МГУ имени М.В.Ломоносова; ООО НПП "Центр перспективных технологий"

Email: yaminsky@nanoscopy.ru
ORCID iD: 0009-0009-1528-5284

магистр, программист, МГУ имени М.В.Ломоносова, физический факультет

Россия, Москва; Москва

А. И. Федосеев

МГУ имени М.В.Ломоносова

Email: yaminsky@nanoscopy.ru
ORCID iD: 0009-0007-7282-1093

д.ф.-м.н., проф., физический факультет

Россия, Москва

Д. И. Яминский

МГУ имени М.В.Ломоносова

Email: yaminsky@nanoscopy.ru
ORCID iD: 0009-0009-6370-7496

асп., физический факультет

Россия, Москва

И. В. Яминский

МГУ имени М.В.Ломоносова; ООО НПП "Центр перспективных технологий"

Автор, ответственный за переписку.
Email: yaminsky@nanoscopy.ru
ORCID iD: 0000-0001-8731-3947

д.ф.-м.н., проф., ген. дир., МГУ имени М.В.Ломоносова, физический факультет

Россия, Москва; Москва

Список литературы

  1. Song Q, Alvarez-Laviada A., Schrup S.E., Reilly-O’Donnell B., Entcheva E., Gorelik J. Opto-SICM framework combines optogenetics with scanning ion conductance microscopy for probing cell-to-cell contacts. Commun Biol. 2023. Nov 8. Vol. 6(1). PP. 1131. https://doi.org/10.1038/s42003-023-05509-3
  2. Tikhonova T.N., Kolmogorov V.S., Timoshenko R.V., Vaneev A.N., Cohen-Gerassi D., Osminkina L.A., Gorelkin P.V., Erofeev A.S., Syso¬ev N.N., Adler-Abramovich L. et al. Sensing Cells-Peptide Hydrogel Interaction In Situ via Scanning Ion Conductance Microscopy. Cells. 2022. Vol. 11(24). P. 4137. https://doi.org/10.3390/cells11244137
  3. Ushiki T., Nakajima M., Choi M., Cho S.J., Iwata F. Scanning ion conductance microscopy for imaging biological samples in liquid: A comparative study with atomic force microscopy and scanning electron microscopy. Micron 2012. Vol. 43. PP. 1390–1398.
  4. Ruan H., Zhang X., Yuan J., Fang X. Effect of water-soluble fullerenes on macrophage surface ultrastructure revealed by scanning ion conductance microscopy. RSC Ad. v. 2022. Aug 10. Vol. 12(34). PP. 22197–22201. https://doi.org/10.1039/d2ra02403a
  5. Akhmetova A.I., Yaminsky D.I., Yaminsky I.V. Femtoscan Online: Image Processing and Filtering. NANOINDUSTRY. Vol. 17. No. 3-4. 2024. PP. 178–183. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2024.17.3-4.178.183
  6. Akhmetova A.I., Sovetnikov T.O., Zorikova E.O., Yaminsky I.V. Scanning probe microscopy of substantia nigra. NANOINDUSTRY. Vol. 17. No. 1. 2024. PP. 26–31. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2024.17.1.26.31
  7. Akhmetova A.I., Terentyev A.D., Senotrusova S.A., Sovetnikov T.O., Yaminsky D.I., Popov V.V., Yaminsky I.V. Diffraction grating as a means of metrological support of microscopy. NANOINDUSTRY. Vol. 17. No. 2. 2024. PP. 128–133. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2024.17.2.98.105
  8. Akhmetova A.I., Sovetnikov T.O., Loginov B.A., Yaminsky D.I., Yaminsky I.V. Quartz reference measure for scanning probe microscopy. NANOINDUSTRY. Vol. 17. No. 2. 2024. PP. 98–105. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2024.17.2.98.105

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать
2. Рис.1. "ФемтоСкан Х Айон", размещенный на инвертированном оптическом микроскопе Nikon Ti-U c 40х кратным объективом

Скачать (1MB)
Метаданные
3. Рис.2. Компактная версия сканирующего капиллярного микроскопа "ФемтоСкан Х Айон"

Скачать (1MB)
Метаданные
4. Рис.3. Механическая система микроскопа, оснащенная двухкоординатной платформой перемещения по координатам Х и Y

Скачать (1MB)
Метаданные
5. Рис.4. Интерфейс управляющей программы "ФемтоСкан Х Айон"

Скачать (1MB)
Метаданные
6. Рис.5. Рабочее окно ПО "ФемтоСкан Онлайн"

Скачать (3MB)
Метаданные

© Ахметова А.И., Терентьев А.Д., Федосеев А.И., Яминский Д.И., Яминский И.В., 2024