Отправить статью по E-mail Компьютерный ретрофиттинг измерений и контроля как элемент информационных технологий
- Авторы: Вячеславова ОФ1
-
Учреждения:
- МГТУ «МАМИ»
- Выпуск: Том 2, № 1 (2008)
- Страницы: 166-169
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.eco-vector.com/2074-0530/article/view/69679
- DOI: https://doi.org/10.17816/2074-0530-69679
- ID: 69679
Цитировать
Полный текст
Аннотация
В работе представлены результаты фрактального анализа поверхностей различной природы, позволивший выявить шероховатость субмикро- и наноуровней, не доступных для определения традиционными методами исследования. Благодаря проведенному ретрофиттингу измерительных и оценочных процедур, включающему обработку фрактальных сигнатур поверхностей, получена дополнительная информация об их состоянии. Это позволило повысить достоверность проводимых исследований и расширить их диапазон до субмикро- и нано- уровней.
Список литературы
- Петров В.И. Сканирующая зондовая микроскопия / Петров В.И., Лукьянов А.Е., - М.: Физ.дан. МГУ, ч.1, 2001 108 с.
- Рыков С.А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур. Учебное пособие для студентов ВУЗов.- СПб.: Наука, 2001. 52 с.
- Вячеславова О.Ф., Иванов С.А. Объективные предпосылки создания новых подходов в оценке шероховатости поверхности, обработанной электрофизическими методами обработки: материалы 8-й Всероссийской научно-техн. конф. «Состояние и проблемы измерений». М.: 2002, ч.2. с. 65-66.
- Вячеславова О.Ф., Назаров Ю.Ф., Иванов С.А. Фрактальная модель формирования поверхности физическими методами//Обозрение прикладной и промышленной математики. 2002, т.9, вып.3, с.698 -599.
- Информационные технологии в разработке сложных систем: Труды ГОСНИИАС/ГОСНИИ авиац. Систем: -М:, вып. 1(3), 1994,.92 с.
- Информационные технологии, системы и приборы: Сб. научных трудов/Ульяновский Госуд. Техн. университет. Ульяновск, 1998. 91 с.
- Потапов А.А., Герман В.А. О методах измерения фрактальной размерности и фрактальных сигнатур многомерных стохастических сигналов /В ж. «Радиотехника и электроника», 2004, т.49, № 12, с.1468 - 1491
Дополнительные файлы
