Computer Retrofitting of Measurement and Control as an Element of Information Technology



如何引用文章

全文:

详细

This paper presents the results of different nature surfaces fractal analysis, which enables to reveal the roughness of the submicro- and nano levels, inaccessible for the traditional methods of researching. Due to the retrofitting procedures, including the computer processing of the fractal signatures, the additional information on its condition was obtained. It enables to enhance the reliability of results and to widen it's range to the submicro- and nano- levels.

作者简介

O Vyacheslavova

MSTU MAMI

д.т.н., проф8-495-223-05-23 доб. 12-27; МГТУ «МАМИ»; MSTU MAMI

参考

  1. Петров В.И. Сканирующая зондовая микроскопия / Петров В.И., Лукьянов А.Е., - М.: Физ.дан. МГУ, ч.1, 2001 108 с.
  2. Рыков С.А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур. Учебное пособие для студентов ВУЗов.- СПб.: Наука, 2001. 52 с.
  3. Вячеславова О.Ф., Иванов С.А. Объективные предпосылки создания новых подходов в оценке шероховатости поверхности, обработанной электрофизическими методами обработки: материалы 8-й Всероссийской научно-техн. конф. «Состояние и проблемы измерений». М.: 2002, ч.2. с. 65-66.
  4. Вячеславова О.Ф., Назаров Ю.Ф., Иванов С.А. Фрактальная модель формирования поверхности физическими методами//Обозрение прикладной и промышленной математики. 2002, т.9, вып.3, с.698 -599.
  5. Информационные технологии в разработке сложных систем: Труды ГОСНИИАС/ГОСНИИ авиац. Систем: -М:, вып. 1(3), 1994,.92 с.
  6. Информационные технологии, системы и приборы: Сб. научных трудов/Ульяновский Госуд. Техн. университет. Ульяновск, 1998. 91 с.
  7. Потапов А.А., Герман В.А. О методах измерения фрактальной размерности и фрактальных сигнатур многомерных стохастических сигналов /В ж. «Радиотехника и электроника», 2004, т.49, № 12, с.1468 - 1491

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML

版权所有 © Vyacheslavova O.F., 2008

Creative Commons License
此作品已接受知识共享署名-非商业性使用-禁止演绎 4.0国际许可协议的许可。

##common.cookie##