Исследование метрологических характеристик системы PulsESPI применительно к прецизионному контролю термодеформаций

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

В условиях имитации воздействия космического пространства при наземной экспериментальной обработке антенн и зеркальных систем космических аппаратов необходим высокоточный и надёжный контроль термодеформаций. В работе рассматривается контроль объектов размером до 1,5 м, но на практике размер может достигать 10 м. Требования по величине измеряемой термодеформации находится в пределах 10–200 мкм. Деформируемая поверхность обычно является шероховатой (Ra » λоптич.). Погрешность измерений при этом должна быть порядка 1 мкм.

Методом, отвечающим требованиям данной задачи, является метод электронной спекл-интерферометрии (ESPI). Данный метод позволяет контролировать объекты со случайно-неоднородной поверхностью. При использовании данного метода вычисляют значение фазы волнового фронта, регистрируемого цифровой матрицей камеры. Фаза содержит информацию о деформации, а для ее вычисления используется метод пространственного фазового сдвига.

Одной из измерительных систем, основанных на данном методе, является измерительная система PulsESPI (производство Carl Zeiss Optotechnik GmbH, Германия). Она обладает высокой чувствительностью, которая составляет порядка 50 нм. Однако данная измерительная система предназначена для выполнения единичных измерений. В связи с этим разработан дополнительный программный модуль для обработки и визуализации серии из нескольких сотен измерений.

Для исследования метрологических характеристик системы PulsESPI, применительно к измерению термодеформаций (многократные измерения), разработан экспериментальный стенд с тестовым объектом размером 1,5 м. С разных сторон объекта размещались система PulsESPI и интерферометр Renishaw XL-80, внесенный в Госреестр средств измерений РФ. В качестве результатов сравнивались смещение поверхности, измеренное интерферометром Renishaw XL-80, и соответствующая ей точка с карты деформаций системы PulsESPI. На разработанном стенде проведено три вида испытаний. Среднеквадратическое отклонение единичных измерений составило не более ± 0,2 мкм. При проведении серии измерений, в которых получена суммарная деформация 200 мкм, ошибка составила не более ± 1 мкм. Полученные результаты позволяют говорить о возможности применения данной системы для высокоточного контроля термодеформаций крупногабаритных объектов.

Об авторах

Пётр Сергеевич Завьялов

Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН

Email: zavyalov@tdisie.nsc.ru

кандидат технических наук, директор, заведующий лабораторией

Россия, 630058, г. Новосибирск, ул. Русская, 41

Максим Сергеевич Кравченко

Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН

Автор, ответственный за переписку.
Email: max@tdisie.nsc.ru

младший научный сотрудник

Россия, 630058, г. Новосибирск, ул. Русская, 41

Виталий Викторович Уржумов

Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН

Email: urzhumov@tdisie.nsc.ru

инженер

Россия, 630058, г. Новосибирск, ул. Русская, 41

Вячеслав Александрович Куклин

АО «Информационные спутниковые системы» имени академика М. Ф. Решетнёва»

Email: VAK345@iss-reshetnev.ru

начальник отдела 345

Россия, 662972, г. Железногорск Красноярского края, ул. Ленина, 52

Владимир Михайлович Михалкин

АО «Информационные спутниковые системы» имени академика М. Ф. Решетнёва»

Email: mikhalkin@iss-reshetnev.ru

заместитель директора – главный инженер отраслевого центра крупногабаритных трансформируемых механических систем

Россия, 662972, г. Железногорск Красноярского края, ул. Ленина, 52

Список литературы

  1. Франсон М. Оптика спеклов. М. : Мир, 1980. 171 с.
  2. Laser speckle based digital optical methods in structural mechanics: A review / De la Torre I. M., Hernandez-Montes M. del S., Flores-Moreno J. M. [et al.] // Optics and Lasers in Engineering. 2016. Vol. 87. P 32–58.
  3. Ульянов С. С. Что такое спеклы // Соросовский образовательный журнал. 1999. № 5. С. 112–116.
  4. Arai Y. Three-dimensional shape measurement beyond the diffraction limit of lens using speckle interferometry // Journal of modern optics. 2018. Vol. 65, No. 16. P. 1866–1874.
  5. Бесконтактный спекл-интерферометрический измеритель малых смещений / Е. А. Аксёнов, А. А. Шматко, В. И. Зворский [и др.] // Радioелектроннi i комп’ютернi системи. 2008. № 1 (28). С. 15–19.
  6. Stetson K. A. Vibratory strain field measurement by transverse digital holography // Applied Optics. 2015. Vol. 54, No. 27. P. 8207–8211.
  7. Pedrini G., Tiziani H. J. Double-pulse electronic speckle interferometry for vibration analysis // Applied optics. 1994. Vol. 33, No. 34. P. 7857–7863.
  8. Вест Ч. Голографическая интерферометрия. М. : Мир, 1982. 504 с.
  9. Kujawinska M., Wojciak J. Spatial phase shifting techniques of fringe pattern analysis in photomechanics // Second International Conference on Photomechanics and Speckle Metrology. Proc. SPIE, 1991. Vol. 1554B. P. 503–513.
  10. Cookson T.J., Butters J. N., Pollard H.C. Pulsed laser in electronic speckle pattern interferometry // Optics and Laser Technology. 1978. Vol. 10. P. 119–124.
  11. Tyrer J. R. Application of pulsed holography and double pulsed electronic speckle pattern interferometry to large vibrating engineering structures // Optics in Engineering Measurement. 1985. Vol. 599. P. 181–185.
  12. Spooren R. Double-pulse subtraction TV holography // Optical Engineerin. 1992. Vol. 31, No. 5. P. 1000–1007.
  13. Pedrini G., Pfister B., Tiziani H. Double pulse-electronic speckle interferometry // Journal of Modern Optics. 1993. Vol. 40, No. 1, P. 89–96.
  14. Industrial applications of pulsed-laser ESPI vibration analysis / Van der Auweraer H., Steibichler H., Haberstok C. [et al.] // Proceedings of the International Modal Analysis Conference – IMAC, Kissimmee, FL, United States, 2001. Vol. 1. P. 490–496.
  15. Nösekabel E. H., Ernst T., Haefker W. Measurement of the Thermal Deformation of a Highly Stable Antenna with Pulse ESPI // 18th International Congress on Photonics, Munich, Germany. Proc. SPIE, 2007. Vol. 6616. P. 18–21.
  16. Highly Stable Q/V Band Reflector Demonstrator Manufacturing and Testing / Ernst T., Linke S., Lori M. [et al.] // Proc. of 29th ESA Antenna Workshop, ESTEC, Noordwijk, Netherlands, 2007.
  17. Измерение термодеформаций элементов космических аппаратов методом лазерной спекл-интерферометрии / П. С. Завьялов, Е. С. Сенченко, Ю. В. Чугуй [и др.] // Решетневские чтения : материалы XVIII Междунар. науч. конф. (11–14 ноября 2011, г. Красноярск) : в 3 ч. / под общ. ред. Ю. Ю. Логинова ; Сиб. гос. аэрокосмич. ун-т. Красноярск, 2014. Т. 1, № 18. С. 82–83.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Завьялов П.С., Кравченко М.С., Уржумов В.В., Куклин В.А., Михалкин В.М., 2019

Creative Commons License
Эта статья доступна по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах