Информация об авторе
Yulenkov, Svyatoslav E.
Выпуск | Раздел | Название | Файл |
Том 20, № 4 (2019) | Раздел 3. Технологические процессы и материалы | Алгоритм контактного метода измерения текущей площади кристаллов, выращиваемых способом Чохральского |
(Eng) |