Открытый доступ Открытый доступ  Доступ закрыт Доступ предоставлен  Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

№ 8 (2024)

Обложка

Весь выпуск

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Компетентное мнение

pages 12-18 views

Доверенность начинается с ЭКБ

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):20-24
pages 20-24 views
pages 26-28 views

Нормативное регулирование

pages 48-52 views

Подготовка кадров

Инженеров нового поколения готовят в ТулГУ

Янов Е., Маркарова О.
Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):54-55
pages 54-55 views

Контроль и измерения

Использование оптических датчиков для взаимного позиционирования антенн при испытаниях радиосистем

Старовойтов Е., Скиба Е., Руссанов В.

Аннотация

Проблема выполнения антенных измерений в труднодоступных секторах пространства может быть решена применением лазерно-оптических датчиков, позволяющих определять дальность до объектов и их ориентацию.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):56-58
pages 56-58 views

Динамический диапазон анализаторов спектра: особенности оценки и учета при измерениях. Часть 1

Лемешко Н., Агуреев А.

Аннотация

Рассмотрено понятие динамического диапазона, выявлены факторы, оказывающие определяющее влияние на его значение, приведены формулы для расчета динамического диапазона, учитывающие собственный шум анализатора спектра, нелинейность его тракта, а также фазовый шум.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):60-65
pages 60-65 views

Методика проведения входного контроля микросхем в металлокерамических корпусах

Алонцев А.

Аннотация

В статье рассматриваются ресурсы и компетенции, необходимые для проведения входного конроля микросхем в металлокерамических корпусах, а также сложности, возникающие при проверке корпусов иностранного производства, связанные с необходимостью ориентироваться на зарубежные стандарты.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):68-69
pages 68-69 views

Надежность и испытания

Применение прецизионных методов для электрического контроля металлокерамических корпусов

Шугаепов Ш., Егошин В., Ермолаев Е., Тайков Д.

Аннотация

В статье рассмотрены прецизионные методы тестирования, внедренные в АО «Завод полупроводниковых приборов», позволяющие обнаруживать скрытые дефекты в металлокерамических корпусах и измерять СВЧ-характеристики материалов, применяемых для изготовления металлокерамических корпусов.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):70-72
pages 70-72 views

Особенности проведения оценки соответствия ЭКБ, РЭА и материалов с использованием расчетных методов

Козюков А., Кожухов М., Протопопов Г., Казанцев Д.

Аннотация

Обсуждается выбранная большинством космических держав стратегия перехода с больших космических аппаратов на многоспутниковые группировки малых космических аппаратов, которая требует пересмотра всей процедуры квалификации и сертификации разрабатываемого оборудования.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):80-81
pages 80-81 views

Актуальные методы контроля качества при проведении монтажа электронных компонентов

Кремлев К.

Аннотация

Рассмотрены различные современные методы контроля, применяемые при производстве электронных изделий. Отмечено, что правильно организованный контроль повышает экономическую эффективность производства и существенно снижает риски при выпуске электронных устройств.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):74-78
pages 74-78 views

Как выбрать климатическую камеру

Валиев Р.

Аннотация

В статье обсуждаются основные параметры климатических испытательных камер, предложены рекомендации по выбору и вводу в эксплуатацию данного типа испытательного оборудования.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):82-86
pages 82-86 views

Цифровое производство

Методика анализа и оценки рисков информационного обмена с применением информационно-управляющей системы

Семенова Е., Смирнова М., Гейко С.

Аннотация

Рассматриваются вопросы сокращения рисков информационного обмена между проектантом наукоемкого изделия и его изготовителем. Применение методов структурного и статистического анализа позволило осуществить корректирующие действия и минимизировать количество инцидентов при новом проектировании.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):90-93
pages 90-93 views

Технологическое оборудование и материалы

Анализ механических и теплопроводящих свойств керамико-полимерных диэлектрических материалов

Тарасик В., Козловский И., Ционенко Д., Лешок А.

Аннотация

Предложена обобщенная методика расчета упругих свойств керамико-полимерных теплопроводящих диэлектрических материалов, позволяющая на основе единого подхода оценить теплопроводность и проанализировать механические свойства (плотность, модуль упругости по отношению к сжатию).

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):94-100
pages 94-100 views

Дефицит спецоснастки из кварцевого стекла для планарной технологии в производстве микроэлектроники будет преодолен

Елисов П.

Аннотация

АО «Технологии кварцевых кристаллов» запускает завод по производству оснастки из кварцевого стекла для диффузионных и эпитаксиальных процессов. Это будет самая современная в странах БРИКС фабрика по производству изделий из кварцевого стекла, которая позволит российской микроэлектронной отрасли выйти на новый уровень.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):102-106
pages 102-106 views

Микро- и наноструктуры

Реверсивный рост пиролитических пленок ZnO

Пермяков Д., Строгонов А., Небольсин В., Белыx М.

Аннотация

Одним из широко используемых методов синтеза оксида цинка является спрей-пиролиз, который отличается низкой стоимостью, относительной простотой и высокой скоростью процесса. Статья посвящена исследованию явлений в процессе роста пленки ZnO при синтезе методом пневматического спрей-пиролиза из раствора ацетата цинка.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):108-111
pages 108-111 views

EUV-литография: что ожидается в 2025 году?

Макушин М.

Аннотация

В ближайшее десятилетие EUV-литография будет использоваться для формирования топологических элементов, измеряемых в нанометрах и ангстремах. Рассматриваются методики однократного и многократного формирования рисунка.

Электроника: наука, технология, бизнес. 2024;(8):112-119
pages 112-119 views