Информация об авторе
Беспалов, В. А.
| Выпуск | Раздел | Название | Файл |
| Том 17, № 5 (2024) | Оборудование для наноиндустрии | Разработка широкопольного сканера-профилометра и новых способов измерения твердости для первого в мире атомно-силового микроскопа – спутника Земли | |
| Том 18, № 2 (2025) | Оборудование для наноиндустрии | Первичный анализ снимков с первого в мире космического зондового микроскопа "СММ-2000С" в спутнике Земли "Нанозонд-1" |