ОСОБЕННОСТИ ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИИ В ПЛЕНКАХ СЛОИСТОГО ТИТАНАТА ВИСМУТА С РАЗЛИЧНОЙ ДОМЕННОЙ СТРУКТУРОЙ НА КРЕМНИЕВОЙ ПОДЛОЖКЕ
- Авторы: Мухортов В.М1, Головко Ю.И1, Бирюков С.В1, Стрюков Д.В1
-
Учреждения:
- Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наук
- Выпуск: Том 18, № 2 (2022)
- Страницы: 11-18
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.eco-vector.com/2500-0640/article/view/628037
- DOI: https://doi.org/10.7868/S25000640220202
- ID: 628037
Цитировать
Полный текст
Доступ предоставлен
Доступ платный или только для подписчиков
Аннотация
Ключевые слова
Об авторах
В. М Мухортов
Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наук
Email: mukhortov1944@mail.ru
Российская Федерация, 344006, г. Ростов-на-Дону
Ю. И Головко
Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наукРоссийская Федерация, 344006, г. Ростов-на-Дону
С. В Бирюков
Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наукРоссийская Федерация, 344006, г. Ростов-на-Дону
Д. В Стрюков
Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наукРоссийская Федерация, 344006, г. Ростов-на-Дону
Список литературы
- Eshita T., Wang W., Nomura K., Nakamura K., Saito H., Yamaguchi H., Mihara S., Hikosaka Y., Kataoka Y., Kojima M. 2018. Development of highly reliable ferroelectric random access memory and its Internet of Things applications. Japanese Journal of Applied Physics. 57(11S): 11UA01. doi: 10.7567/JJAP.57.11UA01
- Zhang W., Takahashi M., Sakai S. 2019. Investigation of ferroelectric grain sizes and orientations in Pt/CaxSr1–xBi2Ta2O9/Hf–Al–O/Si high performance ferroelectric-gate field-effecttransistors. Materials. 12(3): 399. doi: 10.3390/ma12030399
- Ni K., Yin X., Laguna A.F., Joshi S., Dünkel S., Trentzsch M., Müller J., Beyer S., Niemier M., Hu X.S., Datta S. 2019. Ferroelectric ternary content-addressable memory for one-shot learning. Nature Electronics. 2(11): 521–529. doi: 10.1038/s41928-019-0321-3
- McKee R.A., Walker F.J., Chisholm M.F. 1998. Crystalline oxides on silicon: the first five monolayers. Phys. Rev. Lett. 81(14): 3014. doi: 10.1103/PhysRevLett.81.3014
- Niu G., Yin S., Saint-Girons G., Gautier B., Lecoeur P., Pillard V., Hollinger G., Vilquin B. 2011. Epitaxy of BaTiO3 thin film on Si(0 0 1) using a SrTiO3 buffer layer for non-volatile memory application. Microelectronic Engineering. 88(7): 1232–1235. doi: 10.1016/j.mee.2011.03.028
- Müller J., Polakowski P., Müller S., Mulaosmanovic H., Ocker J., Mikolajick T., Slesazeck S., Flachowsky S., Trentzsch M. 2016. High endurance strategies for hafnium oxide based ferroelectric field effect transistor. In: 16th Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS) (Pittsburgh, Pennsylvania, USA, 17–19 October 2016). IEEE: 1–7. doi: 10.1109/NVMTS.2016.7781517
- Baek S.-H., Eom C.-B. 2013. Epitaxial integration of perovskitebased multifunctional oxides on silicon. Acta Materialia. 61(8): 2734–2750. doi: 10.1016/j.actamat.2012.09.073
- Yu Z., Ramdani J., Curless J.A., Overgaard C.D., Finder J.M., Droopad R., Eisenbeiser K.W., Hallmark J.A., Ooms W.J. 2000. Epitaxial oxide thin films on Si(001). J. Vac. Sci. Technol. B. 18(4): 2139. doi: 10.1116/1.1303737
- Анохин А.С., Бирюков С.В., Головко Ю.И., Мухортов В.М. 2019. Структурные и электрические характеристики двухслойных тонких пленок Bi4Ti3O12/(Ba,Sr)TiO3, осажденных на кремниевую подложку методом высокочастотного распыления при повышенных давлениях кислорода. ФТТ. 61(2): 278–283. doi: 10.21883/FTT.2019.02.47126.179
- Vaithyanathan V., Lettieri J., Tian W., Sharan A., Vasudevarao A., Li Y.L. 2006. с-axis oriented epitaxial BaTiO3 films on (001) Si. J. Appl. Phys. 100(2): 024108. doi: 10.1063/1.2203208
- Mazet L., Yang S.M., Kalinin S.V., Schamm-Chardon S., Dubourdieu C. 2015. A review of molecular beam epitaxy of ferroelectric BaTiO3 films on Si, Ge and GaAs substrates and their applications. Sci. Technol. Adv. Mater. 16(3): 036005. doi: 10.1088/1468-6996/16/3/036005
- Мухортов В.М., Юзюк Ю.И. 2008. Гетероструктуры на основе наноразмерных сегнетоэлектрических пленок: получение, свойства и применение. Ростов н/Д, изд-во ЮНЦ РАН: 224 с.
- Горшков А.П., Тихов С.В. 2013. Физика поверхности полупроводников. Нижний Новгород, изд-во Нижегородского госуниверситета: 101 с.
- Гуртов В.А. 2005. Твердотельная электроника. М., Техносфера: 492 с.
- Бирюков С.В., Головко Ю.И., Масычев С.И., Мухортов В.М., Шелепо А.П. 2009. Исследование пьезоактивности тонких пленок цирконата-титаната свинца. ЖТФ. 79(8):90–92.
- Reichmann A., Mitsche S., Zankel A., Poelt P., Reichmann K. 2014. In situ mechanical compression of polycrystalline BaTiO3 in the ESEM. J. Eur. Ceram. Soc. 34(10): 2211–2215. doi: 10.1016/j.jeurceramsoc.2014.03.015
- Yuan R., Duan L., Du X., Li Y. 2015. Identification and mechanical control of ferroelastic domain structure in rhombohedral CaMn7O12. Phys. Rev. B. 91(5): 054102. doi: 10.1103/PhysRevB.91.054102
- Marsilius M., Frederick J., Hu W., Tan X., Granzow T., Han P. 2012. Mechanical confinement: an effective way of tuning properties of piezoelectric crystals. Adv. Funct. Mater. 22(4):797–802. doi: 10.1002/adfm.201101301
- Zhu H., Chu D.P., Fleck N.A., Pane I., Huber J.E., Natori E. 2007. Polarization change of PZTN ferroelectric thin films under uniform in-plane tensile stress. Integr. Ferroelectr. 95(1):117–127. doi: 10.1080/10584580701756532
- Gao P., Britson J., Nelson C.T., Jokisaari J.R., Duan C., Trassin M., Baek S.-H., Guo H., Li L., Wang Y., Chu Y.-H., Minor A.M., Eom C.-B., Ramesh R., Chen L.-Q., Pan X. 2014. Ferroelastic domain switching dynamics under electrical and mechanical excitations. Nat. Commun. 5: 3801. doi: 10.1038/ncomms4801