Методы прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

А. Строгонов

Воронежский государственный технический университет

Автор, ответственный за переписку.
Email: andreistrogonov@mail.ru

профессор кафедры твердотельной электроники

Россия

Список литературы

  1. Ушаков И.А. Вероятностные модели надежности информационно-вычислительных систем. М.: Радио и связь, 1991. 132 с.
  2. Барлоу Р., Прошан Ф. Математическая теория надежности / Пер. с англ.; под ред. Б.В. Гнеденко. М.: Сов. радио, 1969. 537 с.
  3. Барлоу Р., Прошан Ф. Статистическая теория надежности и испытания на безотказность / Пер. с англ. И.А. Ушакова. М.: Наука, 1984. 452 с.
  4. Строгонов А.В. Характеристики надежности современных ПЛИС // ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес. 2019. № 4. С. 52–58.
  5. Соколов В.И. Проблемы микроэлектроники (1. Диффузия. 2. Дефектообразование. 3. Деградация) // Физика и техника полупроводников. 1995. Т. 29. С. 842.
  6. Горин Б.М., Кив А.Е, Плотникова Л.Г. и др. Механизмы естественного старения и вынужденной деградации полупроводниковых приборов // Обзоры по электронной техники, 1983. 57 с. Серия «Полупроводниковые приборы».
  7. Вавилов В.С., Горин Б.М., Данилин Н.С. и др. Радиационные методы в твердотельной электронике. М.: Радио и связь, 1990. 184 с.
  8. Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Обобщенная модель надежности изделий // Известия вузов. Электроника. 1998. № 1. C. 85–90.
  9. Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Выражения для основных количественных показателей надежности в физико- статистическом подходе // Петербургский журнал электроники. 1994. № 1. C. 56–58.
  10. Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Метод изучения надежности интегральных микросхем // Микроэлектроника. 1992. Вып. 2. Т. 21. C. 105–111.
  11. Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Управление надежностью интегральных микросхем на основе информационной избыточности // Известия вузов. Электроника. 1998. № 7. C. 62–66.
  12. Малков Я.В. Диагностика деградационных процессов в полупроводниковых структурах с позиций междисциплинарных теорий // Зарубежная радиоэлектроника. 1996. № 5. C. 77–82.
  13. Дубицкий Л.Г. Предвестники отказов в изделиях электронной техники. М.: Радио и связь, 1989. 96 с.
  14. Сыноров В.Ф., Пивоварова Р.П. Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем. Воронеж: Изд-во ВГУ, 1983. 152 с.
  15. Погребинский С.Б., Стрельников В.П. Проектирование и надежность многопроцессорных ЭВМ. М.: Радио и связь, 1988. 168 с.
  16. Стрельников В.П. Вероятностно-физические методы исследования надежности машин и аппаратуры // Надежность и контроль качества. 1989. № 9. С. 3–7.
  17. Алексанян И.Т., Кривошапко В.М., Романов А.А. Построение модели параметрической надежности ИС по данным о деградации их характеристик и имитация испытаний на ЭВМ // Электронная техника. 1979. Вып. 1. С. 15–19. Серия «Микроэлектроника».
  18. Алексанян И.Т., Кривошапко В.М. Моделирование параметрических отказов и изучение надежности интегральных схем // Электронная техника. 1981. Вып. 4. С. 52–57. Серия «Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания».
  19. Кожевников В.С., Матюшкинa И.В., Черняев Н.В. Анализ основного уравнения физико-статистического подхода теории надежности технических систем // Математические основы и численные методы моделирования. 2020. Т. 12. № 4. С. 721–735.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать
2. Рис. 1. Схема потенциального рельефа, определяющего эволюцию дефектной структуры в процессе эксплуатации полупроводникового прибора

Скачать (20KB)
Метаданные

© Строгонов А., 2024