Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Основные механизмы воздействия специальных факторов на полупроводниковую структуру
Селин Д.
Зарубежные и отечественные многослойные керамические конденсаторы: технологии, категории качества
Савицкий В., Раскин А.
Использование ЭКБ с истекшим сроком хранения
Дудунов А.
Стойкость к внешним воздействиям и надежность металлокерамических корпусов
Шугаепов Ш., Ермолаев Е., Егошин В., Сабирова Е.
Надежность и безопасность операционных систем различной архитектуры. Часть 1
Назаров С., Барсуков А.
Перспективные соединители завода «Электродеталь»
Гуров Р., Горьков А.
Автоматизация теплового метода выходного контроля радиоэлектронных изделий
Чупринова О.
Контактирующие устройства для тестирования и испытаний ЭКБ – надежные решения от компании «АйСи Сокет»
Капшунова Ю., Колочков С.
Моделирование депассивации границы раздела Si–SiO2 в структуре LDMOS-транзистора с применением САПР Sentaurus TCAD
Алексеев Р., Мальцев В.
Методы прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам
Строгонов А.
1 - 10 из 10 результатов
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.