Chasing excellence: from deep machine learning to artificial intelligence in Maker-Ray AOI systems. Part 2

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Рұқсат ақылы немесе тек жазылушылар үшін

Аннотация

In the first part of the article, published in «ELECTRONICS: Science, Technology, Business» No. 10/2023 journal, the effectiveness of the use of artificial intelligence (AI) was substantiated as the next step in the development of machine learning algorithms in image analysis. The second part discusses the theory and practice of building a virtual model for the operation of artificial intelligence used in Maker-Ray optical inspection systems.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

I. Rozhkov

ООО «Новые Технологии»

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: rozhkov@nt-smt.ru

генеральный директор, управляющий партнер

Ресей

A. Garanin

ООО «Новые Технологии»

Email: garanin@nt-smt.ru

технический директор, управляющий партнер

Ресей

D. Podolsky

ООО «Новые Технологии»

Email: podolsky@nt-smt.ru

ведущий менеджер по продуктам

Ресей

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу
2. Photo 1

Жүктеу (52KB)
Метадеректер
3. Fig. 1. General model of AI training

Жүктеу (512KB)
Метадеректер
4. Fig. 2. Statistical results of measuring the number of red pixels R: a - number of red pixels R on the red line; b - number of red pixels R in the other area

Жүктеу (19KB)
Метадеректер
5. Fig. 3. Algorithm of applying fragmentation and pixel transformation function

Жүктеу (33KB)
Метадеректер
6. Fig. 4. Illustration of the description of the transformation function f(x, y)

Жүктеу (901KB)
Метадеректер
7. Fig. 5. Methodology for increasing the informativeness of images

Жүктеу (791KB)
Метадеректер
8. Fig. 6. Formation of image classes

Жүктеу (18KB)
Метадеректер
9. Fig. 7. Dropout method

Жүктеу (20KB)
Метадеректер

© Rozhkov I., Garanin A., Podolsky D., 2024