The concept of trusted electronic component base as a new category of electronic component base products for regulated markets of critical information infrastructure

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription or Fee Access

Abstract

The article substantiates the concept of a trusted electronic component base (ECB) for regulated critical information infrastructure (CII) markets as a possible new quality and safety category, in addition to the existing categories of ECB for special-purpose and general-purpose applications. Their features and distinctions are analyzed.

Full Text

Restricted Access

About the authors

A. Nikiforov

Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Author for correspondence.
Email: aynik@spels.ru

д.т.н., профессор, заместитель директора, Центр экстремальной прикладной электроники

Russian Federation

V. Telets

Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Email: 1355t@mail.ru

д.т.н., профессор, директор, Центр экстремальной прикладной электроники

Russian Federation

L. Kessarinsky

Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Email: LNKessarinskiy@mephi.ru

к.т.н., доцент, заместитель директора, Аттестационно-испытательный центр информационной безопасности и систем защиты информации

Russian Federation

R. Levin

АО «РНИИ «Электронстандарт»

Email: rglevin@elstandart.spb.ru

к.ф.-м.н., генеральный директор

Russian Federation

D. Boychenko

АО «ЭНПО СПЭЛС»

Email: dvboy@spels.ru

к.т.н., генеральный директор

Russian Federation

References

  1. Королев П. С., Полесский С. Н., Цветков В. Э. и др. Метод оценивания надежности продукции электронной и приборостроительной отраслей на основе требований системы менеджмента качества // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. 2025. Т. 68. № 4. С. 355–365.
  2. Писаренко О., Бабарыкин В., Щеколдин А., Ендерова А. Военная электроника: обзор нормативной базы и практики ее применения // СТА. 2015. № 3. С. 86–93.
  3. Стешенко В. Б., Краснов М. И. Электронная компонентная база космического назначения // Ракетно-космическое приборостроение и информационные системы. 2021. Т. 8. № 2. С. 89–105.
  4. Машевич П. Р., Ачкасов В. Н., Антимиров В. М., Фортинский Ю. К. Управление развитием электронной промышленности // Информационные ресурсы России. 2005. № 6 (82).
  5. Боков С. И. О необходимости ведомственного центра компетенции радиоэлектроники // Альманах современной науки и образования. 2012. № 9 (64).
  6. Куцько П. П. Координационное управление предприятиями, создающими электронную компонентную базу двойного назначения // Диссертация кандидата технических наук, 2008.
  7. Кузьмин А. В. Управление проведением конкурсов и аудитом проектов создания микроэлектронных компонентов двойного применения // Диссертация кандидата технических наук, 2008.
  8. Эннс В. В. Как нам развивать отечественную микроэлектронику: 2023 год // ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес, 2023. № 4. С. 46–50.
  9. Nikiforov A. Y. et al. Basic trends in electronic components product range development: Radiation hardness aspects // 30th International Conference on Microelectronics (MIEL) : proceedings, Nis, 2017, pp. 45–48.
  10. Перспективы развития рынка микроэлектроники в РФ на горизонте до 2030 г.: отчет об исследовании / Strategy Partners. Москва, июнь 2025.
  11. Покровский И. А. Стратегия электронного суверенитета // Безопасность информационных технологий. 2025. Т.32. № 2. С. 196–203.
  12. Кривошеин Б. Н., Покровский И. А. Понятия и критерии оценки технологической независимости и безопасности объектов критической информационной инфраструктуры // Безопасность информационных технологий. 2023. Т.30. № 4. С. 39–60.
  13. Московская Ю. М., Денисов А. Н., Никифоров А. Ю. Система обеспечения качества доверенного микроэлектронного производства // Безопасность информационных технологий. 2024. Т. 31, № 1. С. 42–53.
  14. Мордкович Е. А. Последствия игнорирования «современных» стандартов разработки ЭКБ и РЭА // Безопасность информационных технологий. 2025. Т. 32. № 2. С. 204–207.
  15. Колосова А. С., Каменева А. С., Чуков Г. В., Никифоров А. Ю. Возможность применения алгоритмов машинного обучения для прогнозирования качества ЭКБ и РЭА // Безопасность информационных технологий. 2023. Т. 30. № 1. С. 123–129.
  16. Шемонаев А. Н., Епифанцев К. А., Кессаринский Л. Н., Пончаков М. Ю. О результатах экспериментального исследования нарушения функционирования компонентов беспилотных транспортных средств от преднамеренных деструктивных электромагнитных воздействий // Безопасность информационных технологий. 2025. Т. 32, № 1. С. 172–188.
  17. Зубков Е. А., Овасапян Т. Д., Москвин Д. А., Зегжда Д. П. Информационная безопасность киберфизических систем с точки зрения методов моделирования систем // Неделя науки ИКНК: Материалы докладов научно-практической конференции, Санкт-Петербург, 15–17 апреля 2024 года. Санкт-Петербург: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 2024. С. 68–70.
  18. Марков Г. А., Крундышев В. М., Зегжда Д. П. Математическая модель управления событиями информационной безопасности с использованием цепи Маркова в промышленных системах // Проблемы информационной безопасности. Компьютерные системы, 2024. № 2(59). С. 20–30.
  19. Зегжда Д. П., Супрун А. Ф., Анисимов Е. Г., Анисимов В. Г. Оценка возможности модернизации систем информационной безопасности в планируемые сроки // Проблемы информационной безопасности. Компьютерные системы. 2024. № 3(61). С. 80–87.
  20. Марков Г. А., Крундышев В. М., Зегжда Д. П. Проблемы обеспечения информационной безопасности в промышленных системах // Методы и технические средства обеспечения безопасности информации. 2024. № 33. С. 100–101.
  21. Шелупанов А. А., Авдюшина М. А., Банокин П. И. и др. Обеспечение устойчивого развития финансовой системы в условиях внешнего санкционного давления. Томск: В-Спектр (ИП В. М. Бочкарева), 2024. 292 с.
  22. Шелупанов А. А., Брагин Д. С., Конев А. А., Пермяков Р. А. Технологии доверенного взаимодействия в экосистеме Национальной технологической инициативы // Современное образование: интеграция образования, науки, бизнеса и власти: Материалы международной научно-методической конференции. В 2-х частях. Томск: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2022. С. 15–20.
  23. Баранов В. В., Шелупанов А. А. Методика и алгоритмы расчета защищенности элементов распределенных информационных систем в условиях деструктивного воздействия // Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. 2022. Т. 25, № 4. С. 88–100.
  24. Можаев Р. К., Печенкин А. А., Балуев А. А., Маврицкий О. Б., Егоров А. Н. Обзор лазерных сканирующих методов исследований микроэлектронных полупроводниковых структур // Безопасность информационных технологий. 2022. Т. 29, № 4. С. 105–125.
  25. Кессаринский Л. Н. Технологическая безопасность // Безопасность информационных технологий. 2024. Т. 31. № 3. С. 14–22.
  26. Кессаринский Л. Н., Ширин А. О., Коваль К. А. и др. Выявление признаков контрафакта в изделиях электронной компонентной базы в аспекте обеспечения промышленной кибербезопасности // Безопасность информационных технологий. 2019. Т. 26. № 2. С. 117–128.
  27. Кессаринский Л. Н., Артамонов А. С., Тайибов Ф. Ф. и др. Идентификация элементной компонентной базы киберфизических систем // Безопасность информационных технологий. 2018. Т. 25. № 3. С. 67–78.
  28. Кессаринский Л. Н. Экспертная сессия «Доверенные Пак: лебедь, рак и щука в Российской электронике» на ExpoElectronica 2025 // Безопасность информационных технологий. 2025. Т. 32. № 2. С. 192–195.
  29. Rama E. et al. Trustworthy Integrated Circuits: From Safety to Security and Beyond // IEEE Access, 2024. Vol. 12. P. 69603–69632.
  30. Кессаринский Л. Н., Никифоров А. Ю. Подход к заданию общих требований к доверенной электронной компонентной базе для регулируемого рынка критической информационной инфраструктуры в вопросах и ответах // Безопасность информационных технологий. 2025. Т. 32. № 1. С. 8–16.
  31. Кессаринский Л. Н., Никифоров А. Ю., Дураковский А. П. Система стандартизации доверенной активной электронной компонентной базы для ПАК КИИ: первые результаты и ближайшие планы // Методы и технические средства обеспечения безопасности информации. 2024. № 33. С. 143–145.
  32. Телец В. А. Доверенная электроника – «новая гражданская?» // Безопасность информационных технологий. 2024. Т. 31. № 2. С. 8–10.
  33. Сотсков Д. И., Зубаков А. В., Усачев Н. А. и др. Специализированная СВЧ библиотека для разработки приемопередающей доверенной ЭКБ // Безопасность информационных технологий. 2023. Т. 30, № 3. С. 104–115.
  34. Мосин С. Г. Доверенность интегральных схем: характеристики и причины их нарушения // Безопасность информационных технологий. 2025. Т. 32. № 2. С. 178–191.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download
2. Fig. 1. Categories of electronic products by volume of production and cost

Download (119KB)
Indexing metadata
3. Fig. 2. The most important areas of critical information infrastructure

Download (144KB)
Indexing metadata
4. Fig. 3. Not related to critical information infrastructure under Federal Law 187, but regulated areas of critical civil infrastructure – a combination of power of attorney and technical and economic efficiency

Download (152KB)
Indexing metadata
5. Fig. 4. “Iceberg” of trusted electronics

Download (196KB)
Indexing metadata
6. Fig. 5. “Three pillars” of trusted microelectronics electronic components

Download (283KB)
Indexing metadata
7. Fig. 6. “Three pillars” of trusted microelectronics electronic components: (1) confirmation method

Download (305KB)
Indexing metadata
8. Fig. 7. “Three pillars” of power of attorney: (2) quality as operability, reliability and resistance to operating modes and conditions

Download (339KB)
Indexing metadata
9. Fig. 8. “Three pillars” of power of attorney: (3) security (information, technological and functional)

Download (400KB)
Indexing metadata
10. Fig. 9. Typical processes of microelectronics product life cycle stages

Download (414KB)
Indexing metadata

Copyright (c) 2025 Nikiforov A., Telets V., Kessarinsky L., Levin R., Boychenko D.