Информация об авторе
Grishkevich, V.
| Выпуск | Раздел | Название | Файл |
| № 6 (2025) | Надежность и испытания | Фотонная эмиссия – инновационный метод анализа дефектов в микроэлектронике | |
| № 7 (2025) | Надежность и испытания | Микроскопия в области глубокого ультрафиолета: принципы и перспективы применения в промышленности и науке |