Photon emission is an innovative method for analyzing defects in microelectronics

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Рұқсат ақылы немесе тек жазылушылар үшін

Аннотация

The analytical complex “Photon”, developed jointly by “Optoelectronic systems” JSC and NTC “Belmicrosystems”, solves the problem of identifying hidden defects of integrated circuits, such as structural defects of the crystal lattice, local current leaks and overheating of power elements.

Негізгі сөздер

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

V. Plebanovich

ОАО «Планар»

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: vpleba@planar.by

д.т.н.

Белоруссия, Minsk

V. Svetenkova

ОАО «Оптоэлектронные системы»

Email: marketing@optes.by
Белоруссия, Minsk

V. Grishkevich

ОАО «Оптоэлектронные системы»

Email: marketing@optes.by
Белоруссия, Minsk

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу
2. Fig. 1. Photo of a fragment of the topology of the rejected device No. 1: a – in the photon emission mode; b – optical photo. The glow area of the defective place is circled

Жүктеу (763KB)
Метадеректер
3. Fig. 2. Photo of a fragment of the topology of the rejected device No. 2: a – in the photon emission mode; b – optical photo of the fragment of the topology. The glow area of the defective place is outlined

Жүктеу (673KB)
Метадеректер

© Plebanovich V., Svetenkova V., Grishkevich V., 2025