Информация об авторе
Lelyaev, V.
| Выпуск | Раздел | Название | Файл |
| № 10 (2024) | Надежность и испытания | Акустическая микроскопия: выявление скрытых дефектов | |
| № 1 (2025) | Производственные технологии | Современные методы удаления загрязнений с подложек в микроэлектронике |