Автор туралы ақпарат
Lelyaev, V.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| № 10 (2024) | Reliability and validation | Acoustic microscopy: detecting hidden defects | |
| № 1 (2025) | Manufacturing technologies | Modern methods of removing contaminants from substrates in microelectronics |