Acoustic microscopy: detecting hidden defects

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅或者付费存取

详细

The article discusses one of the most effective methods of microelectronic component non-destructive testing – ultrasonic acoustic microscopy, used to detect hidden defects.

全文:

受限制的访问

作者简介

P. Varlamov

Компания «Глобал Микроэлектроника»

编辑信件的主要联系方式.
Email: vpi@global-micro.ru

ведущий инженер

俄罗斯联邦

V. Lelyaev

Компания «Глобал Микроэлектроника»

Email: VL@global-micro.ru

руководитель направления

俄罗斯联邦

参考

  1. Халиуллина А.В., Хайрутдинов Б.И. Ультразвук в медицине. Учебное пособие. Казань, 2022. 117 с.
  2. Park S. AcouLab Semiconductor Basic Education 2008.
  3. Бояркин Е.В., Кочетков А.С., Бехер С.А. Физические основы ультразвукового контроля. Руководство по подготовке к экзамену. Учебное пособие. Новосибирск: Издательство СГУПС, 2018. 38 с.
  4. Ефимов И.Е., Козырь И.Я., Горбунов Ю.В. Микроэлектроника. Физические и технические основы, надежность. М.: Высшая школа, 1986. 464 с.

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
2. Fig. 1. The results of scanning the microcircuit with an ultrasonic wave: depth slice and 3D reconstruction

下载 (230KB)
3. Fig. 2. The focal area of the converter

下载 (149KB)
4. Fig. 3. The principle of ultrasonic defect detection

下载 (108KB)
5. Fig. 4. SAM Mini scanning acoustic microscope from Acculab company

下载 (146KB)
6. 5. Radiation patterns of ultrasonic waves of various frequencies: a – 500 kHz; b – 1 MHz; c – 2 MHz; d – 5 MHz (transducer diameter 5 mm, wave propagation velocity 1480 m/s)

下载 (173KB)
7. Table

下载 (741KB)

版权所有 © Varlamov P., Lelyaev V., 2024