Features of burn-in testing of semiconductor electronics products

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription or Fee Access

Abstract

The article provides an overview and classification of equipment for burn-in testing in small-scale and serial production at electronics industry enterprises, as well as during incoming inspection at consumers. The main characteristics of burn-in test systems manufactured by domestic enterprises are presented.

Full Text

Restricted Access

About the authors

S. Efimenko

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Author for correspondence.
Email: SEfimenko@integral.by

к.т.н., главный конструктор – заведующий лабораторией

Belarus

N. Kovalchuk

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Email: NKovalchuk@integral.by

к.т.н., заместитель генерального директора – главный инженер

Belarus

V. Smolich

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Email: VSmolich@integral.by

ведущий инженер

Belarus

References

  1. Горлов М., Строгонов А., Арсентьев С., Емельянов В., Плебанович В. Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС// Технологии в электронной промышленности. 2006. №1. с. 70–75.
  2. http://vniipm.ru/ru/produkciya/category/view/23
  3. http://sovtest-ate.com/equipment/ftt/
  4. https://www.form.ru/ett/bis/
  5. http://dmt.by/production/ispytatelnye-kompleksy.html
  6. https://niiet.ru/06_12_2024/
  7. Патент РФ №2485529 «Система для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки цифровых интегральных схем (ИС) и сверхбольших интегральных схем (СБИС)», МПК G01R 31/00, 20.06.2013.
  8. https://www.est-test.ru/equipment/oborudovanie2/oborudovanie2_23.html
  9. http://www.eda-industries.com
  10. http://www.incal.com/
  11. http://www.di.co.kr/
  12. http://www.tmele.jp
  13. http://www.loranger.com
  14. http://www.aehr.com

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2. Fig. 1. Typical dependence of the failure rate of semiconductor electronics products on time

Download (15KB)
3. Fig. 2. Typical loading board for conducting ETT using the RPP72G2-2TZ connector

Download (41KB)
4. Fig. 3. ETT stands manufactured by NIIPM: a – SETT IME-600-02; b – SETT IME-600-023

Download (17KB)
5. Fig. 4. ETT stand FTT-17 from OOO Sovtest ATE

Download (25KB)
6. Fig. 5. ETT stands Formula_BiS: a – for 64 loading boards; b – for 32 loading boards

Download (24KB)
7. Fig. 6. ETT stand DMT-146

Download (21KB)
8. Fig. 7. ETT stand SIT-210

Download (18KB)
9. Fig. 8. ETT stand Formula_BiS-2K

Download (16KB)
10. Fig. 9. ETT stand DMT-145 (view from two sides)

Download (29KB)

Copyright (c) 2025 Efimenko S., Kovalchuk N., Smolich V.