Особенности проведения электротермотренировки изделий полупроводниковой электроники

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

В статье приведен обзор и классификация оборудования для проведения электротермотренировки при мелкосерийном и серийном производстве на предприятиях электронной промышленности, а также при входном контроле у потребителей. Представлены основные характеристики стендов ЭТТ, выпускаемых отечественными предприятиями.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

С. Ефименко

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Автор, ответственный за переписку.
Email: SEfimenko@integral.by

к.т.н., главный конструктор – заведующий лабораторией

Белоруссия

Н. Ковальчук

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Email: NKovalchuk@integral.by

к.т.н., заместитель генерального директора – главный инженер

Белоруссия

В. Смолич

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Email: VSmolich@integral.by

ведущий инженер

Белоруссия

Список литературы

  1. Горлов М., Строгонов А., Арсентьев С., Емельянов В., Плебанович В. Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС// Технологии в электронной промышленности. 2006. №1. с. 70–75.
  2. http://vniipm.ru/ru/produkciya/category/view/23
  3. http://sovtest-ate.com/equipment/ftt/
  4. https://www.form.ru/ett/bis/
  5. http://dmt.by/production/ispytatelnye-kompleksy.html
  6. https://niiet.ru/06_12_2024/
  7. Патент РФ №2485529 «Система для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки цифровых интегральных схем (ИС) и сверхбольших интегральных схем (СБИС)», МПК G01R 31/00, 20.06.2013.
  8. https://www.est-test.ru/equipment/oborudovanie2/oborudovanie2_23.html
  9. http://www.eda-industries.com
  10. http://www.incal.com/
  11. http://www.di.co.kr/
  12. http://www.tmele.jp
  13. http://www.loranger.com
  14. http://www.aehr.com

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Типовая зависимость интенсивности отказов изделий полупроводниковой электроники от времени

Скачать (15KB)
3. Рис. 2. Типовая плата загрузки для проведения ЭТТ с использованием разъема РПП72Г2-2ТЗ

Скачать (41KB)
4. Рис. 3. Стенды ЭТТ производства НИИПМ: а – СЭТТ ИМЭ-600-02; б – СЭТТ ИМЭ-600-023

Скачать (17KB)
5. Рис. 4. Стенд ЭТТ FTT-17 от ООО «Совтест АТЕ»

Скачать (25KB)
6. Рис. 5. Стенды ЭТТ Formula_BiS: а – на 64 платы загрузки; б – на 32 платы загрузки

Скачать (24KB)
7. Рис. 6. Стенд ЭТТ ДМТ-146

Скачать (21KB)
8. Рис. 7. Стенд ЭТТ СИТ-210

Скачать (18KB)
9. Рис. 8. Стенд ЭТТ Formula_BiS-2K

Скачать (16KB)
10. Рис. 9. Стенд ЭТТ ДМТ-145 (вид с двух сторон)

Скачать (29KB)

© Ефименко С., Ковальчук Н., Смолич В., 2025