Features of burn-in testing of semiconductor electronics products

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Рұқсат ақылы немесе тек жазылушылар үшін

Аннотация

The article provides an overview and classification of equipment for burn-in testing in small-scale and serial production at electronics industry enterprises, as well as during incoming inspection at consumers. The main characteristics of burn-in test systems manufactured by domestic enterprises are presented.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

S. Efimenko

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: SEfimenko@integral.by

к.т.н., главный конструктор – заведующий лабораторией

Белоруссия

N. Kovalchuk

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Email: NKovalchuk@integral.by

к.т.н., заместитель генерального директора – главный инженер

Белоруссия

V. Smolich

ОАО «Интеграл» – управляющая компания холдинга «Интеграл»

Email: VSmolich@integral.by

ведущий инженер

Белоруссия

Әдебиет тізімі

  1. Горлов М., Строгонов А., Арсентьев С., Емельянов В., Плебанович В. Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС// Технологии в электронной промышленности. 2006. №1. с. 70–75.
  2. http://vniipm.ru/ru/produkciya/category/view/23
  3. http://sovtest-ate.com/equipment/ftt/
  4. https://www.form.ru/ett/bis/
  5. http://dmt.by/production/ispytatelnye-kompleksy.html
  6. https://niiet.ru/06_12_2024/
  7. Патент РФ №2485529 «Система для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки цифровых интегральных схем (ИС) и сверхбольших интегральных схем (СБИС)», МПК G01R 31/00, 20.06.2013.
  8. https://www.est-test.ru/equipment/oborudovanie2/oborudovanie2_23.html
  9. http://www.eda-industries.com
  10. http://www.incal.com/
  11. http://www.di.co.kr/
  12. http://www.tmele.jp
  13. http://www.loranger.com
  14. http://www.aehr.com

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
2. Fig. 1. Typical dependence of the failure rate of semiconductor electronics products on time

Жүктеу (15KB)
3. Fig. 2. Typical loading board for conducting ETT using the RPP72G2-2TZ connector

Жүктеу (41KB)
4. Fig. 3. ETT stands manufactured by NIIPM: a – SETT IME-600-02; b – SETT IME-600-023

Жүктеу (17KB)
5. Fig. 4. ETT stand FTT-17 from OOO Sovtest ATE

Жүктеу (25KB)
6. Fig. 5. ETT stands Formula_BiS: a – for 64 loading boards; b – for 32 loading boards

Жүктеу (24KB)
7. Fig. 6. ETT stand DMT-146

Жүктеу (21KB)
8. Fig. 7. ETT stand SIT-210

Жүктеу (18KB)
9. Fig. 8. ETT stand Formula_BiS-2K

Жүктеу (16KB)
10. Fig. 9. ETT stand DMT-145 (view from two sides)

Жүктеу (29KB)

© Efimenko S., Kovalchuk N., Smolich V., 2025