The use of precision methods for electrical testing of metal-ceramic packages

Capa

Citar

Texto integral

Acesso aberto Acesso aberto
Acesso é fechado Acesso está concedido
Acesso é fechado Acesso é pago ou somente para assinantes

Resumo

The article discusses precision testing methods implemented at Semiconductor Devices Plant JSC, which allow detecting hidden defects in metal-ceramic packages and measuring microwave characteristics of materials used to manufacture metal-ceramic packages.

Texto integral

Acesso é fechado

Sobre autores

Sh. Shugaepov

АО «ЗПП»; ФТФ ТГУ; ФГБОУ ВО «МарГУ»

Autor responsável pela correspondência
Email: shnshugaepov@zpp12.ru

АО «ЗПП», директор по развитию, аспирант ФТФ ТГУ, ФГБОУ ВО «МарГУ», научный сотрудник

Rússia

V. Egoshin

АО «ЗПП»; ФТФ ТГУ; ФГБОУ ВО «МарГУ»

Email: vaegoshin@zpp12.ru

АО «ЗПП», заместитель главного конструктора по материалам, аспирант ФТФ ТГУ, ФГБОУ ВО «МарГУ», научный сотрудник

Rússia

E. Ermolaev

АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»

Email: ermolaev_ev@zpp12.ru

к.т.н., АО «ЗПП», заместитель главного конструктора по новым разработкам, ФГБОУ ВО «МарГУ», научный сотрудник

Rússia

D. Taikov

АО «ЗПП»

Email: shnshugaepov@zpp12.ru

инженер-технолог группы подготовки производства

Rússia

Arquivos suplementares

Arquivos suplementares
Ação
1. JATS XML
2. Fig. 1. Slot resonator for measuring microwave characteristics of materials

Baixar (14KB)

Declaração de direitos autorais © Shugaepov S., Egoshin V., Ermolaev E., Taikov D., 2024