Устройства контактирующие и спутники-носители АО «ЗПП» для испытаний микросхем

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

Рассмотрено проведение испытаний микросхем с применением электротермотренировки, а также устройства контактирующие и спутники-носители, разрабатываемые Акционерным обществом «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»).

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

Ш. Шугаепов

АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»

Автор, ответственный за переписку.
Email: shnshugaepov@zpp12.ru

директор по развитию; научный сотрудник

Россия

Е. Ермолаев

АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»

Email: ermolaev_ev@zpp12.ru

заместитель главного конструктора по новым разработкам; научный сотрудник

Россия

В. Егошин

АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»

Email: vaegoshin@zpp12.ru

заместитель главного конструктора по материалам; научный сотрудник

Россия

Е. Магидов

АО «ЗПП»

Email: ogp@zpp12.ru

инженер-конструктор

Россия

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Плата ЭТТ

3. Рис. 2. УК, установленные на плате ЭТТ

4. Рис. 3. Габаритные чертежи устройств контактирующих: а – УК14/1,25-2С; б – УК16/1,25-2С; в – УК24/1,25-2С; г – УК16/1-4С; д – УК14/1,25-2СМ

Скачать (296KB)
5. Рис. 4. Изготовленные устройства контактирующие и спутники- носители с установленным металлокерамическим корпусом: а – УК14/1,25-2С; б – УК16/1,25-2С; в – УК24/1,25-2С; г – УК16/1-4С


© Шугаепов Ш., Ермолаев Е., Егошин В., Магидов Е., 2023