电邮这篇文章 Contacting devices and carriers from ZPP JSC for IC testing
- 作者: Shugaepov S.1,2, Ermolaev E.1,2, Egoshin V.1,2, Magidov E.1
-
隶属关系:
- АО «ЗПП»
- ФГБОУ ВО «МарГУ»
- 期: 编号 7 (228) (2023)
- 页面: 174-177
- 栏目: Reliability and validation
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/632113
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.228.7.174.177
- ID: 632113
如何引用文章
开放存取
##reader.subscriptionAccessGranted##
详细
The article considers the IC testing using burn-in, as well as contacting devices and carriers developed by Semiconductor Devices Plant JSC (ZPP JSC).
关键词
全文:
作者简介
Sh. Shugaepov
АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»
编辑信件的主要联系方式.
Email: shnshugaepov@zpp12.ru
директор по развитию; научный сотрудник
俄罗斯联邦E. Ermolaev
АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»
Email: ermolaev_ev@zpp12.ru
заместитель главного конструктора по новым разработкам; научный сотрудник
俄罗斯联邦V. Egoshin
АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»
Email: vaegoshin@zpp12.ru
заместитель главного конструктора по материалам; научный сотрудник
俄罗斯联邦E. Magidov
АО «ЗПП»
Email: ogp@zpp12.ru
инженер-конструктор
俄罗斯联邦补充文件
