Email this article Contacting devices and carriers from ZPP JSC for IC testing
- Authors: Shugaepov S.1,2, Ermolaev E.1,2, Egoshin V.1,2, Magidov E.1
-
Affiliations:
- АО «ЗПП»
- ФГБОУ ВО «МарГУ»
- Issue: No 7 (228) (2023)
- Pages: 174-177
- Section: Reliability and validation
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/632113
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.228.7.174.177
- ID: 632113
Cite item
Open Access
Access granted
Abstract
The article considers the IC testing using burn-in, as well as contacting devices and carriers developed by Semiconductor Devices Plant JSC (ZPP JSC).
Keywords
Full Text
About the authors
Sh. Shugaepov
АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»
Author for correspondence.
Email: shnshugaepov@zpp12.ru
директор по развитию; научный сотрудник
Russian FederationE. Ermolaev
АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»
Email: ermolaev_ev@zpp12.ru
заместитель главного конструктора по новым разработкам; научный сотрудник
Russian FederationV. Egoshin
АО «ЗПП»; ФГБОУ ВО «МарГУ»
Email: vaegoshin@zpp12.ru
заместитель главного конструктора по материалам; научный сотрудник
Russian FederationE. Magidov
АО «ЗПП»
Email: ogp@zpp12.ru
инженер-конструктор
Russian FederationSupplementary files
