Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Глобализация и монополизация микроэлектроники в современных условиях
Шелепин Н.
Исследование лазерных сканирующих систем для измерения дефектов формы
Епифанцев К.
Контрактное производство ИС. Ведущие мировые кремниевые заводы развивают мощности
Макушин М.
Применение методов алгоритмизации в процессе имитационного моделирования технологических процессов
Лийн Е., Хомутская О., Ванцов С.
Инженерный подход к выбору новых производителей СВЧ-компонентов из КНР
Конаков С.
Разработка математической модели AMR-преобразователя для внедрения в САПР
Чеплаков А., Литвиненко Э.
Разработка электронной платы преобразователя температуры точки росы
Михин С., Кошкур О., Ганжа В., Романов А.
Надежность и безопасность операционных систем различной архитектуры. Часть 2
Назаров С., Барсуков А.
Влияние конструктивных параметров на плоскую деформацию печатных плат
Ванцов С., Хомутская О., Лийн Е.
В погоне за совершенством: от глубоко машинного обучения к искусственному интеллекту в системах оптической инспекции (АОИ) Maker-Ray. Часть 1
Рожков И., Гаранин А., Подольский Д.
1 - 10 из 10 результатов
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах