No 10 (231) (2023)
Competent opinion
It is not easy to find top experts. But it is possible to raise them
Abstract
АО «АКМЕТРОН» специализируется на проектировании измерительных систем в сфере радиолокации, квантовых вычислений, радиофотоники, навигации, телекоммуникаций, включая сети LTE 4G, 5G, 6G. За 12 лет работы компанией реализовано более 2000 проектов для крупных промышленных концернов, предприятий авиационно-космической и энергетической отраслей, ОПК, метрологических центров, научно-исследовательских и учебных лабораторий. Команда АО «АКМЕТРОН» состоит из инженеров, получивших образование в ведущих технических вузах России; в штате компании кандидаты технических наук, разработчики СВЧ-приборов и программного обеспечения на таких языках, как C#, MATLAB, Python, С++.
Артём Сергеевич Рябокуль, коммерческий директор и управляющий партнер АО «АКМЕТРОН», рассказал нам о том, как предприятию удалось создать такую команду и за счет чего она расширяется вместе с ростом самой компании. Артём Сергеевич в команде АО «АКМЕТРОН» с 2012 года, он окончил факультет электронных приборов и устройств МИЭМ НИУ ВШЭ, имеет степень кандидата технических наук.
Кроме того, мы попросили Алексея Сергеевича Исаева, директора образовательных программ Академии АКМЕТРОН – нового проекта, реализуемого компанией и направленного на подготовку кадров – ответить на несколько вопросов про данный проект.
Prospects for diamond technologies in russia: what problems need to be solved first
Abstract
С 9 по 14 октября 2023 года состоялся очередной Российский форум «Микроэлектроника 2023», организаторами которого выступили АО «НИИМА «Прогресс» и АО «НИИМЭ». На организованной на форуме выставке НИИМА «Прогресс» проводил тестирование системы indoor-навигации с использованием собственных решений, в том числе программного обеспечения, разработанного специально под данное мероприятие.
О том, в чем заключались задачи этого пилотного проекта, каковы результаты тестирования, а также о возможных областях применения решений НИИМА «Прогресс» для indoor- и локальной навигации нам рассказал начальник отдела главного конструктора предприятия Евгений Сергеевич Скиба.
Prospects for diamond technologies in russia: What problems need to be solved first
Abstract
Широким кругом специалистов алмаз признан перспективным материалом для создания на его основе электронной компонентной базы следующего поколения. Алмаз обладает рядом рекордных свойств: минимальным термическим расширением (0,9–1,45 · 10–6 К−1), наибольшей из известных теплопроводностью (2 · 103 Вт / м · К), большой шириной запрещенной зоны (5,45 эВ), высокой критической напряженностью электрического поля (107 В / см2). В настоящее время различными исследовательскими группами в мире ведутся разработки по созданию на основе алмаза электронных компонентов для применений в СВЧ, радиационно-стойкой и силовой электронике, детекторах высокоэнергетичных частиц. Алмазы применяются как широкодиапазонные окна в оптике, при создании источников дальнего УФ-излучения, и как эффективные теплоотводы. На прошедшем в октябре форуме «Микроэлектроника 2023» проблемы синтеза монокристаллического алмаза для применения в ЭКБ обсуждались на круглом столе, посвященном новым материалам. Одним из участников форума была компания «Фрезарт», которая занимается производством монокристаллического алмаза для различных отраслей промышленности и разработкой оборудования для его синтеза. О развитии рынка синтетического алмаза в России и перспективах его применения в электронике мы побеседовали с генеральным директором ООО «Фрезарт» Александром Андреевичем Астафьевым.
Exhibitions & conferences
Plenary part of the “Microelectronics 2023” Russian forum. Part 2
Abstract
Пленарная часть Российского форума «Микроэлектроника 2023», проходившего с 9 по 14 октября 2023 года в Парке науки и искусства федеральной территории «Сириус», включала в себя четыре заседания, на которых обсуждались как вопросы развития отрасли в целом, так и достижения, и планы по отдельным актуальным направлениям. Во второй части статьи рассматриваются доклады, представленные на двух пленарных заседаниях форума, которые были посвящены вопросам доверенности электронных систем и программно-аппаратных комплексов (ПАК) для критической информационной инфраструктуры (КИИ) и развитию ЭКБ, алгоритмов и технологий для реализации искусственного и гибридного интеллекта.
Domestic materials and equipment for bare boards – experience exchange and discussion of industry development prospects “RUSCON 2023” science conference of bare boards manufacturers
Abstract
15–16 ноября 2023 года в Санкт-Петербурге прошла конференция «РУСКОН 2023», организованная российским разработчиком и производителем технологического оборудования и материалов ООО «СПбЦ «ЭЛМА». Впервые данная конференция, посвященная новейшим достижениям в области производства печатных плат, состоялась более 20 лет назад, однако несколько последних лет она не проводилась, поэтому можно сказать, что в этом году мероприятие обрело свое второе рождение.
Training & Education
Human capital in the field of microwave measurement: demands and ways to meet them. Part 1
Abstract
На семинаре «Новые возможности программно-аппаратных решений „ПЛАНАР“ для измерений в ВЧ, СВЧ и мм диапазонах», прошедшем в Москве 9 ноября 2023 года, была представлена презентация программы повышения квалификации РТУ МИРЭА и ТУСУР на основе оборудования «ПЛАНАР». Воспользовавшись случаем, мы поговорили с докладчиком о данном учебном курсе, а также с представителями ООО «ПЛАНАР» и ФГУП «ВНИИФТРИ» о ситуации с кадрами на данных предприятиях и в отрасли в целом.
Personnel policy of ZPP JSC
Abstract
The article considers various directions and aspects of the personnel policy of Semiconductor Devices Plant JSC (ZPP JSC), which helps ensure the efficient operation of the enterprise and the production of high-quality products.
Experience practice in organizing interaction between NIIMA «Progress» JSC and universities to attract personnel
Abstract
NIIMA Progress JSC, a leading design center in the Russian Federation, address two issues: attracting employees to solve the problems of designing new IC, SoC, SiP as part of the program of development and promoting its products on the market.
Coordination center “staffing support for microelectronics”: tasks, functions, planned results
Abstract
The article shows the place of Coordination Center “Staffing Support For Microelectronics” founded in May, 2023 in the electronics industry management system, tasks faced by the center, and approaches intended to solve these tasks. The article also describes the results which are to be achieved with the coordination center participation.
Artificial Intelligence
Use of artificial intelligence and computer simulation in the field of superconductivity
Abstract
The article presents an overview of the use of artificial intelligence technologies in the field of superconductivity. It will help to better understand the previous stages of development of these technologies, as well as predict future prospects for their development.
Computer engineering
Reliability and security of operating systems of various architectures. Part 3
Abstract
The article presents the model of the Kaspersky operating system.
It is noted that the cyber immune principle of its construction increases the reliability and security of KasperskyOS compared to OS of other architectures.
Electromechanical Components
Microwave electronics
Manufacturing equipment and process materials
Chasing excellence: from deep machine learning to artificial intelligence in maker- ray aoi systems. Part 1
Abstract
The introduction of deep machine learning methods in automatic optical inspection systems allowed Maker- Ray to create a machine that can self-learn, identify defects in printed circuit board mounting and, instead of an operator, is able to eliminate false positives.
The article describes the problems of building a smart system for analyzing images of printed circuit boards.
Test and measurement
Formation of a data package of coordinate measurements in shape, contour, location control tools
Abstract
The article provides an overview of modern models and technological solutions for reducing errors when measuring shape defects at coordinate measuring equipment. The importance of conducting a systematic error analysis is emphasized.