COMPUTER MODELING OF INELASTIC-SCATTERING CROSS SECTIONSOF ELECTRONS IN THREE LA YERED STRUCTURES TYPES:«FILM-INTERFACE-SUBTRACT»


Cite item

Full Text

Abstract

In this work we have briefly presented a possible computer program for modeling inelastic-scattering cross sections of electrons in three layered structures types: film/ interface/ subtract. The influence of film and subtract elements distribution on the interface and type of film growth on energy losses for the structure «Fe/Fe-Si/Si» is studied.

About the authors

S A Kuschenkov

A S Parshin

G Alexandrova

S A Hodenkov

References

  1. Флегонтова, У. Ю. Эффективная реализация расчета потери энергии и угла рассеяния при неупругом взаимодействии электрона с веществом / У. Ю. Флегонтова [и др.] // ЖТФ. 2000. Т. 70. Вып. 12. С. 6-12.
  2. Tougaard, S. Influence of elastic and inelastic scattering on energy spectra of electrons emitted from solids / S. Tougaard, P . Sigmund // Phys. Rev . B . 1982. V ol. 25, № 7. P . 4452-4466.
  3. Yubero, F . Model for quantitative analysis of reflection-electron-energy-loss spectra / F . Y ubero, S . Tougaard // Phys. Rev . B . 1992. V . 46, № 4. P . 2486-2497.
  4. Raether, H. Exitations of Plasmons and Interband Transitions by Electrons / H. Raether // Springer Tracts in M odern Physics. V o l. 88. Springe r . Ne w Y ork, 1980.
  5. Tung, C. J. Differential cross sections for plasmon excitations and reflected electron-energy-loss spectra / C. J. Tung [et al.] // Phys. Rev. B. 1994. Vol. 49, № 23. P . 16684-16693.
  6. Werner, W . S. M. Analysis of reflection electron energy loss spectra (REELS) for determination of dielectric function of solids: Fe, Co, Ni / W. S. M. Werner // Surf. Sci. 2007. V ol. 601. P . 2125-2138.
  7. Chen, Y . F . Surface effects on angular distributions in ray-photoelectron spectroscopy / Y. F. Chen // Surf. Sci.2002. Vol. 519. P. 115-124.
  8. Кущенков, С. А. Компьютерное моделирование X-спектров потерь отраженных неупруго рассеянных электронов / С. А. Кущенков, Г. А. Александрова, А. С. Паршин // Сб. тр. Х регион. конф. студентов, аспирантов и молодых ученых по физике полупроводниковых, диэлектрических и магнитных материалов (26-29 апр. 2006, г. Владивосток) ;ИАПУ ДВ О Р АН. Владивосток , 2006. С. 65-68.
  9. Ritchie, R. H. Electron excitation and optical potential in electron microscopy / R. H. Ritchie, A. Howie // Philos. Mag. 1977. Vol. 36, № 2. P. 463-481.
  10. Tougaard, S. Inelastic-electron-scatter ing cross sections for Si, Cu, Ag, Au, Ti, Fe, and Pd / S. Tougaard, J. Kraaer // Phys. Rev . B. 1991. V ol. 43, № 2. P . 1651-1661.
  11. Tougaard, S. Differential inelastic electron scattering cross sections from experimental reflection electron-energy-loss spectra: Application to background removal in electron spectroscopy / S. T ougaard, I. Chorkendorff // Phys. Rev . B. 1987. V ol. 35, № 13. P . 6570-6577.
  12. Yubero, F . Dielectric loss function of Si and SiO2 from quantitative analysis of REELS spectra / F . Y ubero [et al.] // Surf. Interface Anal. 1993. V ol. 20. P. 719-726.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 2009 Kuschenkov S.A., Parshin A.S., Alexandrova G., Hodenkov S.A.

Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.