Measurement of the surface excitation probability of electrons reflected from Si surface - PDF (Орыс тілі)


© Igumenov A.Y., Parshin A.S., Mikhlin Y.L., Pchelyakov O.P., Nikiforov A.I., Timofeev V.A., 2014

Creative Commons License
Бұл мақала лицензия бойынша қолжетімді Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>