Четыре способа декапсуляции полупроводниковых приборов
- Авторы: Варламов П.1
-
Учреждения:
- Компания «Глобал Микроэлектроника»
- Выпуск: № 1 (2025)
- Страницы: 70-74
- Раздел: Производственные технологии
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/683107
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2025.242.1.70.74
- ID: 683107
Цитировать
Полный текст



Аннотация
Декапсуляция – это удаление корпуса компонента без повреждения внутренней структуры изделия и с сохранением работоспособности. В статье рассмотрены
современные методы декапсуляции полупроводниковых приборов, их достоинства и недостатки, способы применения.
Полный текст

Об авторах
П. Варламов
Компания «Глобал Микроэлектроника»
Автор, ответственный за переписку.
Email: vpi@global-micro.ru
ведущий инженер
РоссияСписок литературы
- Kor H.B., Liu Q., Gan C.L. Sample Preparation for Deprocessing of 3D Multi-Die Stacked Package. // IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA). 2020. PP. 1–6.
- Obein M. 4 main decapsulation ways // Digit Concept, France. 2017.
- Брюхно Н.А., Дракин А.Ю., Котова М.Ю. Маска для декорпусирования устройств микроэлектроники в полимерном корпусе. Патент RU 199130 U1 (АО «Группа Кремний Эл»).
- Анашин В.С., Никольская Т.В., Сурнин В.Н., Яскин Ю.С. Способ декорпусирования интегральных микросхем. Патент RU 2 572 290 C1 (ОАО «ОРКК»).
Дополнительные файлы
Доп. файлы
Действие
1.
JATS XML
Скачать (433KB)
Скачать (922KB)
Скачать (884KB)
Скачать (32KB)
6.
Рис. 5. Примеры применения лазерной декапсуляции: а – вскрытый керамический СВЧ-корпус; б – медная катушка RFID-метки; в – удаление сгоревших SMD-компонентов
Скачать (38KB)
Скачать (383KB)
Скачать (59KB)
