Some aspects of the development of IC testing and verification methodologies

M. Makushin; Макушин М.

doi:10.22184/1992-4178.2025.250.8.30.40

Некоторые аспекты развития методик контроля и тестирования ИС

Авторы: Макушин М.¹
Учреждения:
1. НОБ «Военные науки и оборонная промышленность» БРЭ
Выпуск: № 8 (2025)
Страницы: 30-40
Раздел: Контроль и измерения
URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/695959
DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2025.250.8.30.40
ID: 695959

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация
Полный текст
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

Верификация и ее этапы являются важными факторами успешности вывода на рынок новых конструкций ИС.

По мере освоения все меньших проектных норм, расширения использования 3D-конструкций и разнородных (по проектным нормам и функциональности) многокристальных/многочиплетных модулей возникает потребность в новых методиках верификации.

Ключевые слова

искусственный интеллект, машинное обучение, автоматизация, методы тестирования

Полный текст

Об авторах

М. Макушин

НОБ «Военные науки и оборонная промышленность» БРЭ

Автор, ответственный за переписку.
Email: journal@electronics.ru

ведущий научный редактор

Россия

Список литературы

Bailey B. Improving Verification Methodologies // Semiconductor Engineering. 2025. February 27ʰᵗ.
Peters L. Making The Most of Test Resources // Semiconductor Engineering. 2025. September 9ʰᵗ.
Foster H. How AI And Connected Workflows Will Close The Verification Bottleneck // Semiconductor Engineering. 2025. March 27ʰᵗ.
Peters L. Automation And AI Improve Failure Analysis // Semiconductor Engineering. 2025. March 11ʰᵗ.
Haley G. E-Beam Inspection Proves Essential For Advanced Nodes // Semiconductor Engineering. 2025. May 8ʰᵗ.