Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Обзор отечественных инновационных методов производства приборов для контроля дефектов формы и профиля
Епифанцев К.
О методических подходах к формированию требований по уровню локализации электронной компонентной базы и других комплектующих в рамках процессов импортозамещения радиоэлектронной продукции
Алексеев В.
Дефицит спецоснастки из кварцевого стекла для планарной технологии в производстве микроэлектроники будет преодолен
Елисов П.
Чиплеты и гетерогенная интеграция как базовый технологический стек, способный обеспечить суверенитет отечественной электроники в новом технологическом укладе
Ачкасов А.
Импортозамещение в сфере производственного оборудования: решения от компании «ПРОТЕХ»
Коваль Ю.
Как нам развивать отечественную микроэлектронику: 2023 год
Эннс В.
Перспективы виртуализации и мультисенсоризации отечественных приборов для измерения дефектов формы
Епифанцев К.
1 - 7 из 7 результатов
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.