Enviar artigo por via de e-mail Methods for predicting ic durability based on parametric failures
- Autores: Strogonov A.1
-
Afiliações:
- Воронежский государственный технический университет
- Edição: Nº 2 (2024)
- Páginas: 88-96
- Seção: Reliability and validation
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/629558
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96
- ID: 629558
Citar
Texto integral
Acesso aberto
Acesso está concedido
Acesso é pago ou somente para assinantes
Resumo
The article discusses the main methodological approaches adopted in foreign and domestic engineering schools in the field of predicting the durability of integrated circuits based on parametric failures.
Palavras-chave
Texto integral
Sobre autores
A. Strogonov
Воронежский государственный технический университет
Autor responsável pela correspondência
Email: andreistrogonov@mail.ru
профессор кафедры твердотельной электроники
RússiaBibliografia
- Ушаков И.А. Вероятностные модели надежности информационно-вычислительных систем. М.: Радио и связь, 1991. 132 с.
- Барлоу Р., Прошан Ф. Математическая теория надежности / Пер. с англ.; под ред. Б.В. Гнеденко. М.: Сов. радио, 1969. 537 с.
- Барлоу Р., Прошан Ф. Статистическая теория надежности и испытания на безотказность / Пер. с англ. И.А. Ушакова. М.: Наука, 1984. 452 с.
- Строгонов А.В. Характеристики надежности современных ПЛИС // ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес. 2019. № 4. С. 52–58.
- Соколов В.И. Проблемы микроэлектроники (1. Диффузия. 2. Дефектообразование. 3. Деградация) // Физика и техника полупроводников. 1995. Т. 29. С. 842.
- Горин Б.М., Кив А.Е, Плотникова Л.Г. и др. Механизмы естественного старения и вынужденной деградации полупроводниковых приборов // Обзоры по электронной техники, 1983. 57 с. Серия «Полупроводниковые приборы».
- Вавилов В.С., Горин Б.М., Данилин Н.С. и др. Радиационные методы в твердотельной электронике. М.: Радио и связь, 1990. 184 с.
- Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Обобщенная модель надежности изделий // Известия вузов. Электроника. 1998. № 1. C. 85–90.
- Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Выражения для основных количественных показателей надежности в физико- статистическом подходе // Петербургский журнал электроники. 1994. № 1. C. 56–58.
- Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Метод изучения надежности интегральных микросхем // Микроэлектроника. 1992. Вып. 2. Т. 21. C. 105–111.
- Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Управление надежностью интегральных микросхем на основе информационной избыточности // Известия вузов. Электроника. 1998. № 7. C. 62–66.
- Малков Я.В. Диагностика деградационных процессов в полупроводниковых структурах с позиций междисциплинарных теорий // Зарубежная радиоэлектроника. 1996. № 5. C. 77–82.
- Дубицкий Л.Г. Предвестники отказов в изделиях электронной техники. М.: Радио и связь, 1989. 96 с.
- Сыноров В.Ф., Пивоварова Р.П. Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем. Воронеж: Изд-во ВГУ, 1983. 152 с.
- Погребинский С.Б., Стрельников В.П. Проектирование и надежность многопроцессорных ЭВМ. М.: Радио и связь, 1988. 168 с.
- Стрельников В.П. Вероятностно-физические методы исследования надежности машин и аппаратуры // Надежность и контроль качества. 1989. № 9. С. 3–7.
- Алексанян И.Т., Кривошапко В.М., Романов А.А. Построение модели параметрической надежности ИС по данным о деградации их характеристик и имитация испытаний на ЭВМ // Электронная техника. 1979. Вып. 1. С. 15–19. Серия «Микроэлектроника».
- Алексанян И.Т., Кривошапко В.М. Моделирование параметрических отказов и изучение надежности интегральных схем // Электронная техника. 1981. Вып. 4. С. 52–57. Серия «Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания».
- Кожевников В.С., Матюшкинa И.В., Черняев Н.В. Анализ основного уравнения физико-статистического подхода теории надежности технических систем // Математические основы и численные методы моделирования. 2020. Т. 12. № 4. С. 721–735.
Arquivos suplementares
