电邮这篇文章 Methods for predicting ic durability based on parametric failures
- 作者: Strogonov A.1
-
隶属关系:
- Воронежский государственный технический университет
- 期: 编号 2 (2024)
- 页面: 88-96
- 栏目: Reliability and validation
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/629558
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96
- ID: 629558
如何引用文章
开放存取
##reader.subscriptionAccessGranted##
详细
The article discusses the main methodological approaches adopted in foreign and domestic engineering schools in the field of predicting the durability of integrated circuits based on parametric failures.
全文:
作者简介
A. Strogonov
Воронежский государственный технический университет
编辑信件的主要联系方式.
Email: andreistrogonov@mail.ru
профессор кафедры твердотельной электроники
俄罗斯联邦参考
- Ушаков И.А. Вероятностные модели надежности информационно-вычислительных систем. М.: Радио и связь, 1991. 132 с.
- Барлоу Р., Прошан Ф. Математическая теория надежности / Пер. с англ.; под ред. Б.В. Гнеденко. М.: Сов. радио, 1969. 537 с.
- Барлоу Р., Прошан Ф. Статистическая теория надежности и испытания на безотказность / Пер. с англ. И.А. Ушакова. М.: Наука, 1984. 452 с.
- Строгонов А.В. Характеристики надежности современных ПЛИС // ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес. 2019. № 4. С. 52–58.
- Соколов В.И. Проблемы микроэлектроники (1. Диффузия. 2. Дефектообразование. 3. Деградация) // Физика и техника полупроводников. 1995. Т. 29. С. 842.
- Горин Б.М., Кив А.Е, Плотникова Л.Г. и др. Механизмы естественного старения и вынужденной деградации полупроводниковых приборов // Обзоры по электронной техники, 1983. 57 с. Серия «Полупроводниковые приборы».
- Вавилов В.С., Горин Б.М., Данилин Н.С. и др. Радиационные методы в твердотельной электронике. М.: Радио и связь, 1990. 184 с.
- Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Обобщенная модель надежности изделий // Известия вузов. Электроника. 1998. № 1. C. 85–90.
- Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Выражения для основных количественных показателей надежности в физико- статистическом подходе // Петербургский журнал электроники. 1994. № 1. C. 56–58.
- Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Метод изучения надежности интегральных микросхем // Микроэлектроника. 1992. Вып. 2. Т. 21. C. 105–111.
- Алексанян И.Т., Черняев Н.В. Управление надежностью интегральных микросхем на основе информационной избыточности // Известия вузов. Электроника. 1998. № 7. C. 62–66.
- Малков Я.В. Диагностика деградационных процессов в полупроводниковых структурах с позиций междисциплинарных теорий // Зарубежная радиоэлектроника. 1996. № 5. C. 77–82.
- Дубицкий Л.Г. Предвестники отказов в изделиях электронной техники. М.: Радио и связь, 1989. 96 с.
- Сыноров В.Ф., Пивоварова Р.П. Параметрическая надежность и физические модели отказов интегральных схем. Воронеж: Изд-во ВГУ, 1983. 152 с.
- Погребинский С.Б., Стрельников В.П. Проектирование и надежность многопроцессорных ЭВМ. М.: Радио и связь, 1988. 168 с.
- Стрельников В.П. Вероятностно-физические методы исследования надежности машин и аппаратуры // Надежность и контроль качества. 1989. № 9. С. 3–7.
- Алексанян И.Т., Кривошапко В.М., Романов А.А. Построение модели параметрической надежности ИС по данным о деградации их характеристик и имитация испытаний на ЭВМ // Электронная техника. 1979. Вып. 1. С. 15–19. Серия «Микроэлектроника».
- Алексанян И.Т., Кривошапко В.М. Моделирование параметрических отказов и изучение надежности интегральных схем // Электронная техника. 1981. Вып. 4. С. 52–57. Серия «Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания».
- Кожевников В.С., Матюшкинa И.В., Черняев Н.В. Анализ основного уравнения физико-статистического подхода теории надежности технических систем // Математические основы и численные методы моделирования. 2020. Т. 12. № 4. С. 721–735.
补充文件
