Особенности измерения теплового сопротивления «кристалл – корпус» MIS-HEMT-транзисторов

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

В статье описаны метод и оснастка для измерения теплового сопротивления «кристалл – корпус» нормально-открытых MIS-HEMT-транзисторов, рассматриваются особенности реализации этого метода.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

А. Строгонов

Воронежский государственный технический университет

Автор, ответственный за переписку.
Email: andreistrogonov@mail.ru

д.т.н., профессор кафедры твердотельной электроники

Россия, Воронеж

М. Харченко

Воронежский государственный лесотехнический университет им. Г. Ф. Морозова; АО «ВЗПП-С»

Email: harchenko@vzpp-s.ru
Россия, Воронеж; Воронеж

А. Ханин

Воронежский государственный лесотехнический университет им. Г. Ф. Морозова; АО «ВЗПП-С»

Email: cool.hanin@yandex.ru
Россия, Воронеж; Воронеж

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Отвод тепла от кристалла транзистора

Скачать (131KB)
3. Рис. 2. Схема включения транзистора для определения ТЧП

Скачать (41KB)
4. Рис. 3. Зависимость напряжения на открытом канале от температуры

Скачать (63KB)
5. Рис. 4. Схема оснастки для измерения теплового сопротивления «кристалл – корпус»

Скачать (62KB)

© Строгонов А., Харченко М., Ханин А., 2023

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах