Методика проведения входного контроля микросхем в металлокерамических корпусах

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

В статье рассматриваются ресурсы и компетенции, необходимые для проведения входного конроля микросхем в металлокерамических корпусах, а также сложности, возникающие при проверке корпусов иностранного производства, связанные с необходимостью ориентироваться на зарубежные стандарты.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

А. Алонцев

АО «ТЕСТПРИБОР»

Автор, ответственный за переписку.
Email: kys@electronics.ru

главный конструктор

Россия

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Микросхема в корпусе DLGA

3. Рис. 2. Микросхемы в корпусе CLGA/CBGA

Скачать (10KB)
4. Рис. 3. Микросхемы в корпусе CQFP

5. Рис. 4. Микросхема в корпусе CLCC/CQFN


© Алонцев А., 2024