Решения для измерения и настройки параметров ЭКБ в интервале температур от компании T°Lab

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

В статье обобщен опыт компании T°Lab по созданию измерительных/настроечных стендов для элементов ЭКБ в интервале температур. Предлагаемые решения упрощают выполнение операций, повышают надежность и существенно снижают стоимость испытательного оборудования.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

Р. Глазунов

ООО «ОТК»

Автор, ответственный за переписку.
Email: journal@electronics.ru

директор

Россия, Москва

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Установка контроля параметров ЭКБ УВК-1 и команда разработчиков

Скачать (515KB)
3. Рис. 2. Установка термокомпенсации УТК-3а (экспорт в Тайвань)

Скачать (635KB)
4. Рис. 3. Примеры типовых тестовых стендов на основе кабельных сборок

Скачать (442KB)
5. Рис. 4. Решение на основе тестовой и материнской печатных плат

Скачать (670KB)
6. Рис. 5. Пример тестовой платы и адаптеров изделий

Скачать (281KB)
7. Рис. 6. Стенд термотренировки с вертикальным исполнением на основе тестовой и материнской печатных плат

Скачать (301KB)
8. Рис. 7. Решение на основе механической коммутации ВЧ-сигнала

Скачать (304KB)
9. Рис. 8. Плата усилителей контактной головки – активный щуп

Скачать (254KB)
10. Рис. 9. Решения с независимым фундаментом для предметного столика: а – камера на фальшполу; б – камера на одном основании с фундаментом

Скачать (237KB)

© Глазунов Р., 2025