Мақаланы E-mail арқылы жіберу Solutions for measuring and calibrating electronic component parameters in a temperature range from T°Lab
- Авторлар: Glazunov R.1
-
Мекемелер:
- ООО «ОТК»
- Шығарылым: № 8 (2025)
- Беттер: 76-80
- Бөлім: Reliability and validation
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/695971
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2025.250.8.76.80
- ID: 695971
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Аннотация
The article summarizes T°Lab’s experience in creating measurement and calibration rigs for electronic components across a wide temperature range. The proposed solutions simplify operations, improve reliability, and significantly reduce the cost of test equipment.
Негізгі сөздер
Толық мәтін
Авторлар туралы
R. Glazunov
ООО «ОТК»
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: journal@electronics.ru
директор
Ресей, МоскваҚосымша файлдар
Қосымша файлдар
Әрекет
1.
JATS XML
2.
Fig. 1. Installation of control parameters of the EKB UVK-1 and the development team
Жүктеу (515KB)
3.
Fig. 2. Thermal compensation unit UTK-3a (export to Taiwan)
Жүктеу (635KB)
4.
Fig. 3. Examples of typical test benches based on cable assemblies
Жүктеу (442KB)
5.
Fig. 4. Solution based on test and motherboard PCBs
Жүктеу (670KB)
6.
Fig. 5. Example of a test board and product adapters
Жүктеу (281KB)
7.
Fig. 6. Thermal training stand with vertical design based on test and motherboard printed circuit boards
Жүктеу (301KB)
8.
Fig. 7. Solution based on mechanical switching of the RF signal
Жүктеу (304KB)
9.
Fig. 8. Contact head amplifier board – active probe
Жүктеу (254KB)
10.
Fig. 9. Solutions with an independent foundation for the object table: a – chamber on a raised floor; b – chamber on the same base as the foundation
Жүктеу (237KB)
