Отправить статью по E-mail Сравнительная оценка надежности партий транзисторов и диодов
- Авторы: Бордюжа О.1, Горлов М.2
-
Учреждения:
- Воронежский государственный лесотехнический университет
- Воронежский государственный технический университет
- Выпуск: № 8 (2025)
- Страницы: 82-90
- Раздел: Надежность и испытания
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/695973
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2025.250.8.82.90
- ID: 695973
Цитировать
Полный текст
Открытый доступ
Доступ предоставлен
Доступ платный или только для подписчиков
Аннотация
В статье предложено шесть способов сравнительной оценки качества и надежности партий полупроводниковых приборов. Описаны варьируемые параметры и характеристики, проанализирована достоверность методов. Все способы запатентованы и опробованы на партиях полупроводниковых изделий, изготовленных на предприятиях электронной промышленности РФ.
Полный текст
Об авторах
О. Бордюжа
Воронежский государственный лесотехнический университет
Автор, ответственный за переписку.
Email: boroleg36@gmail.com
Россия, Воронеж
М. Горлов
Воронежский государственный технический университет
Email: boroleg36@gmail.com
Россия, Воронеж
Список литературы
- Патент РФ №2226698, опубл. 10.04.2004, бюллетень № 10.
- Патент РФ №2490656, опубл. 20.08.2013.
- Патент РФ №2357263, опубл. 17.05.2009. Способ отбраковки полупроводниковых изделий. Авторы: Горлов М.И., Жарких А.И.
- Патент РФ №2538032, опубл. 10.01.2015. Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий. Авторы: Горлов М.И., Смирнов Д.Ю.
- Горлов М.И., Ануфриев Л.И., Достанко А.К., Смирнов Д.Ю. Диагностика твердотельных структур по параметрам низкочастотного шума. Мн.: Интеграл полиграф, 2006. 112 с.
- Горлов М.И., Емельянов А.В., Плебанович В.М. Электростатические заряды в электронике. Мн.: Бел. наука, 2006. 295 с.
- ОСТ 11 073.013-83. Микросхемы интегральные. Методы испытаний. Часть 2 (испытания на воздействие климатических факторов и сред заполнения). С. 15–17.
- Патент РФ №2464583. Опубл. 20.10.2012, бюл. №29. Способ сравнительной оценки надежности полупроводниковых изделий в пластмассовых корпусах. Авторы: Горлов М.И., Тихонов Р.М., Мешкова М.П.
Дополнительные файлы
Доп. файлы
Действие
1.
JATS XML
2.
Рис. 1. Графическое сравнение двух партий по параметру ∆
Скачать (48KB)
