Email this article Comparative evaluation of the reliability of transistor and diode batches
- Authors: Bordyuzha O.1, Gorlov M.2
-
Affiliations:
- Воронежский государственный лесотехнический университет
- Воронежский государственный технический университет
- Issue: No 8 (2025)
- Pages: 82-90
- Section: Reliability and validation
- URL: https://journals.eco-vector.com/1992-4178/article/view/695973
- DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2025.250.8.82.90
- ID: 695973
Cite item
Open Access
Access granted
Abstract
The article proposes six methods for comparatively assessing the quality and reliability of semiconductor device batches. Variable parameters and characteristics are described, and the methods’ reliability is analyzed. All methods are patented and tested on batches of semiconductor products manufactured at Russian electronics industry enterprises.
Full Text
About the authors
O. Bordyuzha
Воронежский государственный лесотехнический университет
Author for correspondence.
Email: boroleg36@gmail.com
Russian Federation, Воронеж
M. Gorlov
Воронежский государственный технический университет
Email: boroleg36@gmail.com
Russian Federation, Воронеж
References
- Патент РФ №2226698, опубл. 10.04.2004, бюллетень № 10.
- Патент РФ №2490656, опубл. 20.08.2013.
- Патент РФ №2357263, опубл. 17.05.2009. Способ отбраковки полупроводниковых изделий. Авторы: Горлов М.И., Жарких А.И.
- Патент РФ №2538032, опубл. 10.01.2015. Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий. Авторы: Горлов М.И., Смирнов Д.Ю.
- Горлов М.И., Ануфриев Л.И., Достанко А.К., Смирнов Д.Ю. Диагностика твердотельных структур по параметрам низкочастотного шума. Мн.: Интеграл полиграф, 2006. 112 с.
- Горлов М.И., Емельянов А.В., Плебанович В.М. Электростатические заряды в электронике. Мн.: Бел. наука, 2006. 295 с.
- ОСТ 11 073.013-83. Микросхемы интегральные. Методы испытаний. Часть 2 (испытания на воздействие климатических факторов и сред заполнения). С. 15–17.
- Патент РФ №2464583. Опубл. 20.10.2012, бюл. №29. Способ сравнительной оценки надежности полупроводниковых изделий в пластмассовых корпусах. Авторы: Горлов М.И., Тихонов Р.М., Мешкова М.П.
Supplementary files
Supplementary Files
Action
1.
JATS XML
2.
Fig. 1. Graphical comparison of two lots by the parameter ∆
Download (48KB)
