Comparative evaluation of the reliability of transistor and diode batches

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Рұқсат ақылы немесе тек жазылушылар үшін

Аннотация

The article proposes six methods for comparatively assessing the quality and reliability of semiconductor device batches. Variable parameters and characteristics are described, and the methods’ reliability is analyzed. All methods are patented and tested on batches of semiconductor products manufactured at Russian electronics industry enterprises.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

O. Bordyuzha

Воронежский государственный лесотехнический университет

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: boroleg36@gmail.com
Ресей, Воронеж

M. Gorlov

Воронежский государственный технический университет

Email: boroleg36@gmail.com
Ресей, Воронеж

Әдебиет тізімі

  1. Патент РФ №2226698, опубл. 10.04.2004, бюллетень № 10.
  2. Патент РФ №2490656, опубл. 20.08.2013.
  3. Патент РФ №2357263, опубл. 17.05.2009. Способ отбраковки полупроводниковых изделий. Авторы: Горлов М.И., Жарких А.И.
  4. Патент РФ №2538032, опубл. 10.01.2015. Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий. Авторы: Горлов М.И., Смирнов Д.Ю.
  5. Горлов М.И., Ануфриев Л.И., Достанко А.К., Смирнов Д.Ю. Диагностика твердотельных структур по параметрам низкочастотного шума. Мн.: Интеграл полиграф, 2006. 112 с.
  6. Горлов М.И., Емельянов А.В., Плебанович В.М. Электростатические заряды в электронике. Мн.: Бел. наука, 2006. 295 с.
  7. ОСТ 11 073.013-83. Микросхемы интегральные. Методы испытаний. Часть 2 (испытания на воздействие климатических факторов и сред заполнения). С. 15–17.
  8. Патент РФ №2464583. Опубл. 20.10.2012, бюл. №29. Способ сравнительной оценки надежности полупроводниковых изделий в пластмассовых корпусах. Авторы: Горлов М.И., Тихонов Р.М., Мешкова М.П.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу
2. Fig. 1. Graphical comparison of two lots by the parameter ∆

Жүктеу (48KB)
Метадеректер

© Bordyuzha O., Gorlov M., 2025